Indexation Ms17516
Ouvrages de la bibliothèque en indexation Ms17516 (1)
Affiner la recherche![]()
texte imprimé
Ce travail étudie les diagrammes de diffractions des rayons X obtenus aux pics des micro-dureté d’un alliage d’aluminium 6063 en utilisant un logiciel d’analyse de diffractogrammes MAUD et identifie les phases métastables présentes à cet état.
Ms10015 

