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Dynamic Responses of an Atomic Force Microscope Interacting With Samples / Jih-Lian, Ha in Transactions of the ASME . Journal of dynamic systems, measurement, and control, Vol. 127 N° 4 (Décembre 2005) 

Public ISBD [article]  in Transactions of the ASME . Journal of dynamic systems, measurement, and control > Vol. 127 N° 4 (Décembre 2005) . - 705-709 p. Titre : Dynamic Responses of an Atomic Force Microscope Interacting With Samples Titre original : Réponses Dynamiques d'un Microscope Atomique de Force Agissant l'un sur l'Autre avec des Echantillons Type de document : texte imprimé Auteurs : Jih-Lian, Ha, Auteur ; Rong-Fong, Fung, Auteur ; Yi-Chan, Chen Article en page(s) : 705-709 p. Note générale : Génie Mécanique Langues : Anglais (eng) Mots-clés : Microscope  atomique  Vibration  Accouplement  piézoélectrique  Déclancheur  piézoélectrique  Réponse  dynamique Index. décimale : 629.8 Résumé : The objective of this paper is to formulate the equations of motion and to analyze the vibrations of an atomic force microscope (AFM), which contains a piezoelectric rod coupling with a cantilever beam, and the tip mass interacting with samples. The governing equations of the AFM system are formulated completely by Hamilton's principle. The piezoelectric rod is treated as an actuator to excite the cantilever beam via an external voltage. The repulsive forces between the tip and samples are modeled by the Hertzian, the Derjaguin-Müller-Toporov, and Johnson-Kendall-Roberts models in the contact region. Finally, numerical results are provided to illustrate the coupling effects between the piezoelectric actuator and the cantilever beam and the interaction effects between the tip and samples on the dynamic responses. L'objectif de cet article est formuler les équations du mouvement et d'analyser les vibrations d'un microscope atomique de force (AFM), qui contient un accouplement piézoélectrique de tige avec un faisceau en porte-à-faux, et agir l'un sur l'autre de masse de bout avec des échantillons. Les équations régissantes du système d'AFM sont formulées complètement par le principe de Hamilton. La tige piézoélectrique est traitée comme déclencheur pour exciter le faisceau en porte-à-faux par l'intermédiaire d'une tension externe. Les forces répulsives entre le bout et les échantillons sont modelées par le hertzien, le Derjaguin-Müller-Toporov, et des modèles de Johnson-kendall-roberts dans la région de contact. En conclusion, des résultats numériques sont fournis pour illustrer les effets d'accouplement entre le déclencheur piézoélectrique et le faisceau en porte-à-faux et les effets d'interaction entre le bout et les échantillons sur les réponses dynamiques. En ligne : rffung@ccms.nkfust.edu.tw [article] Dynamic Responses of an Atomic Force Microscope Interacting With Samples = Réponses Dynamiques d'un Microscope Atomique de Force Agissant l'un sur l'Autre avec des Echantillons [texte imprimé] / Jih-Lian, Ha, Auteur ; Rong-Fong, Fung, Auteur ; Yi-Chan, Chen . - 705-709 p. Génie Mécanique Langues : Anglais (eng) in Transactions of the ASME . Journal of dynamic systems, measurement, and control > Vol. 127 N° 4 (Décembre 2005) . - 705-709 p. Mots-clés : Microscope  atomique  Vibration  Accouplement  piézoélectrique  Déclancheur  piézoélectrique  Réponse  dynamique Index. décimale : 629.8 Résumé : The objective of this paper is to formulate the equations of motion and to analyze the vibrations of an atomic force microscope (AFM), which contains a piezoelectric rod coupling with a cantilever beam, and the tip mass interacting with samples. The governing equations of the AFM system are formulated completely by Hamilton's principle. The piezoelectric rod is treated as an actuator to excite the cantilever beam via an external voltage. The repulsive forces between the tip and samples are modeled by the Hertzian, the Derjaguin-Müller-Toporov, and Johnson-Kendall-Roberts models in the contact region. Finally, numerical results are provided to illustrate the coupling effects between the piezoelectric actuator and the cantilever beam and the interaction effects between the tip and samples on the dynamic responses. L'objectif de cet article est formuler les équations du mouvement et d'analyser les vibrations d'un microscope atomique de force (AFM), qui contient un accouplement piézoélectrique de tige avec un faisceau en porte-à-faux, et agir l'un sur l'autre de masse de bout avec des échantillons. Les équations régissantes du système d'AFM sont formulées complètement par le principe de Hamilton. La tige piézoélectrique est traitée comme déclencheur pour exciter le faisceau en porte-à-faux par l'intermédiaire d'une tension externe. Les forces répulsives entre le bout et les échantillons sont modelées par le hertzien, le Derjaguin-Müller-Toporov, et des modèles de Johnson-kendall-roberts dans la région de contact. En conclusion, des résultats numériques sont fournis pour illustrer les effets d'accouplement entre le déclencheur piézoélectrique et le faisceau en porte-à-faux et les effets d'interaction entre le bout et les échantillons sur les réponses dynamiques. En ligne : rffung@ccms.nkfust.edu.tw