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Détail de l'indexation
543.42 : Analyse spectrale
543 Chimie analytique
543.086
543.088
543.089 05
543.4 Méthodes d'analyse spectrales. Méthodes d'analyse optique. Méthodes basées sur la mesure de la diffraction de rayonnements ou de particules.
543.5 Méthodes physico-chimiques d'analyse (autres que les méthodes optiques)
543.51 Spectrométrie de masse
543.54 Analyse par chromatographie. Analyse par électrophorèse
543.544 Analyse par chromatographie. Chromatographie
543.57 Analyse thermique. Termogravimétrie. Dilatométrie
543.64 Analyse de matière biologique (naturelle et synthétique)
543.086
543.088
543.089 05
543.4 Méthodes d'analyse spectrales. Méthodes d'analyse optique. Méthodes basées sur la mesure de la diffraction de rayonnements ou de particules.
543.5 Méthodes physico-chimiques d'analyse (autres que les méthodes optiques)
543.51 Spectrométrie de masse
543.54 Analyse par chromatographie. Analyse par électrophorèse
543.544 Analyse par chromatographie. Chromatographie
543.57 Analyse thermique. Termogravimétrie. Dilatométrie
543.64 Analyse de matière biologique (naturelle et synthétique)
Ouvrages de la bibliothèque en indexation 543.42
Affiner la rechercheJournal de microscopie et de spectroscopie électronique / Froment, Michel
[périodique] Voir les bulletins disponibles
Titre : Journal de microscopie et de spectroscopie électronique Type de document : texte imprimé Auteurs : Froment, Michel, Directeur de publication, rédacteur en chef ; Luc Beaunier, Responsable de l'équipe de recherche ; Dominique Dorignac, Responsable de l'équipe de recherche Editeur : Société Française de Microscopie Electronique Année de publication : 1976-1989 ISBN/ISSN/EAN : 0395-9279 Note générale : Périodicité: Bimestrielle
1986-1987Langues : Français (fre) Mots-clés : Microscopie électronique ; Spectroscopie électronique ; Microanalyse ; Cristallographie ; Electronique Index. décimale : 543.42 Analyse spectrale DEWEY : 540 [périodique] Voir les bulletins disponibles Journal de microscopie et de spectroscopie électronique [texte imprimé] / Froment, Michel, Directeur de publication, rédacteur en chef ; Luc Beaunier, Responsable de l'équipe de recherche ; Dominique Dorignac, Responsable de l'équipe de recherche . - France : Société Française de Microscopie Electronique, 1976-1989.
ISSN : 0395-9279
Périodicité: Bimestrielle
1986-1987
Langues : Français (fre)
Mots-clés : Microscopie électronique ; Spectroscopie électronique ; Microanalyse ; Cristallographie ; Electronique Index. décimale : 543.42 Analyse spectrale DEWEY : 540