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FPGA-based analog functional measurements for adaptive control in mixed-signal systems / Qin, Jie in IEEE transactions on industrial electronics, Vol. 54 N°4 (Août 2007) 

Public ISBD [article]  in IEEE transactions on industrial electronics > Vol. 54 N°4 (Août 2007) . - 1885-1897 p. Titre : FPGA-based analog functional measurements for adaptive control in mixed-signal systems Titre original : Mesures fonctionnelles analogues FPGA-basées pour la commande adaptative dans les systèmes mélangés de signal Type de document : texte imprimé Auteurs : Qin, Jie, Auteur ; Stroud, Charles E., Auteur ; Dai, Fa Foster, Auteur Article en page(s) : 1885-1897 p. Note générale : Electronique Langues : Anglais (eng) Mots-clés : Adaptive  control  Bruit-in  self-test  (BIST)  Field-programmable  gate  arrays  (FPGAs)  Mixed-signal  testing  Noise  figure  (NF)  Commande  adaptive  Bruit  dans  l'auto-testRangées  de  porte  programmables  de  champ  Essai  mélangé  de  signal  Chiffre  de  bruit Index. décimale : 621 Ingénierie mécanique en général. Technologie nucléaire. Ingénierie électrique. Machinerie Résumé : A field-programmable-gate-array (FPGA)-based built-in self-test (BIST) approach that is used for adaptive control in mixed-signal systems is presented. It provides the capability to perform accurate analog functional measurements of critical parameters such as the third-order intercept point, frequency amplitude and phase responses, and noise figure. The results of these measurements can then be used to adaptively control the analog circuitry for calibration and compensation. The BIST circuitry consists of a direct digital synthesizer-based test pattern generator and a multiplier/accumulator-based output response analyzer. The BIST approach has been implemented in an FPGA-based mixed-signal system and used for actual analog functional measurements. The BIST measurements agree quite well with the results obtained with the traditional analog test equipment. The proposed BIST circuitry provides a unique means for high-performance adaptive control in mixed-signal systems. Une rangée de porte programmable de champ (FPGA) - basé construit dans l'approche (BIST) d'autotest qui est employée pour la commande adaptative dans les systèmes mélangés de signal est présentée. Elle fournit les possibilités pour effectuer des mesures fonctionnelles analogues précises des paramètres critiques tels que le point d'interception, les réponses d'amplitude de fréquence et de phase, et le chiffre de troisième ordre de bruit. Les résultats de ces mesures peuvent alors être employés pour commander de manière adaptative les circuits analogues pour le calibrage et la compensation. Les circuits de BIST se composent d'un générateur de carte-test basé par synthétiseur numérique direct et d'un multiplicateur/d'un analyseur de réponse de rendement basé par accumulateur. L'approche de BIST a été mise en application dans un système mélangé FPGA-basé de signal et employée pour des mesures fonctionnelles analogues réelles. Les mesures de BIST sont conformes tout à fait bien aux résultats obtenus avec l'équipement d'essai analogue traditionnel. Les circuits proposés de BIST fournissent des moyens uniques pour la commande adaptative à rendement élevé dans les systèmes mélangés de signal. DEWEY : 621 ISSN : 0278-0046 RAMEAU : Systèmes adaptatifs-- En ligne : qinjie1@auburn.edu, strouce@auburn.edu, daifa01@auburn.edu [article] FPGA-based analog functional measurements for adaptive control in mixed-signal systems = Mesures fonctionnelles analogues FPGA-basées pour la commande adaptative dans les systèmes mélangés de signal [texte imprimé] / Qin, Jie, Auteur ; Stroud, Charles E., Auteur ; Dai, Fa Foster, Auteur . - 1885-1897 p. Electronique Langues : Anglais (eng) in IEEE transactions on industrial electronics > Vol. 54 N°4 (Août 2007) . - 1885-1897 p. Mots-clés : Adaptive  control  Bruit-in  self-test  (BIST)  Field-programmable  gate  arrays  (FPGAs)  Mixed-signal  testing  Noise  figure  (NF)  Commande  adaptive  Bruit  dans  l'auto-testRangées  de  porte  programmables  de  champ  Essai  mélangé  de  signal  Chiffre  de  bruit Index. décimale : 621 Ingénierie mécanique en général. Technologie nucléaire. Ingénierie électrique. Machinerie Résumé : A field-programmable-gate-array (FPGA)-based built-in self-test (BIST) approach that is used for adaptive control in mixed-signal systems is presented. It provides the capability to perform accurate analog functional measurements of critical parameters such as the third-order intercept point, frequency amplitude and phase responses, and noise figure. The results of these measurements can then be used to adaptively control the analog circuitry for calibration and compensation. The BIST circuitry consists of a direct digital synthesizer-based test pattern generator and a multiplier/accumulator-based output response analyzer. The BIST approach has been implemented in an FPGA-based mixed-signal system and used for actual analog functional measurements. The BIST measurements agree quite well with the results obtained with the traditional analog test equipment. The proposed BIST circuitry provides a unique means for high-performance adaptive control in mixed-signal systems. Une rangée de porte programmable de champ (FPGA) - basé construit dans l'approche (BIST) d'autotest qui est employée pour la commande adaptative dans les systèmes mélangés de signal est présentée. Elle fournit les possibilités pour effectuer des mesures fonctionnelles analogues précises des paramètres critiques tels que le point d'interception, les réponses d'amplitude de fréquence et de phase, et le chiffre de troisième ordre de bruit. Les résultats de ces mesures peuvent alors être employés pour commander de manière adaptative les circuits analogues pour le calibrage et la compensation. Les circuits de BIST se composent d'un générateur de carte-test basé par synthétiseur numérique direct et d'un multiplicateur/d'un analyseur de réponse de rendement basé par accumulateur. L'approche de BIST a été mise en application dans un système mélangé FPGA-basé de signal et employée pour des mesures fonctionnelles analogues réelles. Les mesures de BIST sont conformes tout à fait bien aux résultats obtenus avec l'équipement d'essai analogue traditionnel. Les circuits proposés de BIST fournissent des moyens uniques pour la commande adaptative à rendement élevé dans les systèmes mélangés de signal. DEWEY : 621 ISSN : 0278-0046 RAMEAU : Systèmes adaptatifs-- En ligne : qinjie1@auburn.edu, strouce@auburn.edu, daifa01@auburn.edu