Imagerie de surface de polymères: microscopie à force atomique / Coulon, Ghislaine in Techniques de l'ingénieur AM, Vol. AM2 (Trimestriel)  

Public ISBD [article]  inTechniques de l'ingénieur AM > Vol. AM2 (Trimestriel) . - 9 p. Titre : Imagerie de surface de polymères: microscopie à force atomique Type de document : texte imprimé Auteurs : Coulon, Ghislaine, Auteur Année de publication : 2007 Article en page(s) : 9 p. Langues : Français (fre) Mots-clés : Surface Polymères Microscopie Force atomique REFERENCE : AM 3 280 DEWEY : 668.4 Date : Janvier 2000 En ligne : http://www.techniques-ingenieur.fr [article] Imagerie de surface de polymères: microscopie à force atomique [texte imprimé] / Coulon, Ghislaine, Auteur . - 2007 . - 9 p. Langues : Français (fre) in Techniques de l'ingénieur AM > Vol. AM2 (Trimestriel) . - 9 p. Mots-clés : Surface Polymères Microscopie Force atomique REFERENCE : AM 3 280 DEWEY : 668.4 Date : Janvier 2000 En ligne : http://www.techniques-ingenieur.fr

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Imagerie de surface de polymères / Coulon, Ghislaine (2000)

Public ISBD in Techniques de l'ingénieur : plastiques et composites Ti100. Plastochimie et analyse physico-chimique / Agassant, Jean-François (2012)   Titre : Imagerie de surface de polymères : microscopie à force atomique: réf. internet AM 3280 Type de document : texte imprimé Auteurs : Coulon, Ghislaine, Auteur Année de publication : 2000 Importance : p. 357-368 Note générale : Bibliogr. p. 367-368 Langues : Français (fre) Mots-clés : Polymères  Microscopie -- imagerie Note de contenu : Sommaire: 1. Détection de la force d'interaction pointe-surface 2. Microscopie en mode contact "classique" (AFM) 3. Autres microscopie en mode contact 4. Microscopie en mode non-contact (ou résonnant) 5. Microscopie en mode intermittent (TM) 6. Conclusion in Techniques de l'ingénieur : plastiques et composites Ti100. Plastochimie et analyse physico-chimique / Agassant, Jean-François (2012)   Imagerie de surface de polymères : microscopie à force atomique: réf. internet AM 3280 [texte imprimé] / Coulon, Ghislaine, Auteur . - 2000 . - p. 357-368. Bibliogr. p. 367-368 Langues : Français (fre) Mots-clés : Polymères  Microscopie -- imagerie Note de contenu : Sommaire: 1. Détection de la force d'interaction pointe-surface 2. Microscopie en mode contact "classique" (AFM) 3. Autres microscopie en mode contact 4. Microscopie en mode non-contact (ou résonnant) 5. Microscopie en mode intermittent (TM) 6. Conclusion

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