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Auteur Coulon, Ghislaine

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Imagerie de surface de polymères: microscopie à force atomique / Coulon, Ghislaine in Techniques de l'ingénieur AM, Vol. AM2 (Trimestriel)

Public

ISBD

[article]
in Techniques de l'ingénieur AM > Vol. AM2 (Trimestriel) . - 9 p.
Titre : Imagerie de surface de polymères: microscopie à force atomique
Type de document : texte imprimé
Auteurs : Coulon, Ghislaine, Auteur
Année de publication : 2007
Article en page(s) : 9 p.
Langues : Français (fre)
Mots-clés : Surface Polymères Microscopie Force atomique
REFERENCE : AM 3 280
DEWEY : 668.4
Date : Janvier 2000
En ligne : http://www.techniques-ingenieur.fr

[article] Imagerie de surface de polymères: microscopie à force atomique [texte imprimé] / Coulon, Ghislaine, Auteur . - 2007 . - 9 p.
Langues : Français (fre)
in Techniques de l'ingénieur AM > Vol. AM2 (Trimestriel) . - 9 p.
Mots-clés : Surface Polymères Microscopie Force atomique
REFERENCE : AM 3 280
DEWEY : 668.4
Date : Janvier 2000
En ligne : http://www.techniques-ingenieur.fr

Imagerie de surface de polymères / Coulon, Ghislaine

Public

ISBD

in Techniques de l'ingénieur : plastiques et composites Ti100. Plastochimie et analyse physico-chimique / Agassant, Jean-François

Titre : Imagerie de surface de polymères : microscopie à force atomique: réf. internet AM 3280
Type de document : texte imprimé
Auteurs : Coulon, Ghislaine, Auteur
Année de publication : 2000
Importance : p. 357-368
Note générale : Bibliogr. p. 367-368
Langues : Français (fre)
Mots-clés : Polymères; Microscopie -- imagerie
Note de contenu : Sommaire:
1. Détection de la force d'interaction pointe-surface
2. Microscopie en mode contact "classique" (AFM)
3. Autres microscopie en mode contact
4. Microscopie en mode non-contact (ou résonnant)
5. Microscopie en mode intermittent (TM)
6. Conclusion

in Techniques de l'ingénieur : plastiques et composites Ti100. Plastochimie et analyse physico-chimique / Agassant, Jean-François

Imagerie de surface de polymères : microscopie à force atomique: réf. internet AM 3280 [texte imprimé] / Coulon, Ghislaine, Auteur . - 2000 . - p. 357-368.
Bibliogr. p. 367-368
Langues : Français (fre)
Mots-clés : Polymères; Microscopie -- imagerie
Note de contenu : Sommaire:
1. Détection de la force d'interaction pointe-surface
2. Microscopie en mode contact "classique" (AFM)
3. Autres microscopie en mode contact
4. Microscopie en mode non-contact (ou résonnant)
5. Microscopie en mode intermittent (TM)
6. Conclusion

Exemplaires

Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité
aucun exemplaire