| Titre : | Etude et qualification des convertisseurs analogique-digital en haute température | | Type de document : | texte imprimé | | Auteurs : | Toumi, Mohamed Seghir Hamza, Auteur ; Hamami, Latifa, Directeur de thèse | | Editeur : | [S.l.] : [s.n.] | | Année de publication : | 2007 | | Importance : | 115 f. | | Présentation : | ill. | | Format : | 30 cm. | | Accompagnement : | 1 CD-ROM. | | Note générale : | Mémoire de Projet de Fin d'Etudes: Electronique: Alger, Ecole Nationale Polytechnique: 2007
Annexe f. I - LXVIII . - Bibliogr. f. LXIX - LXXIV | | Langues : | Français (fre) | | Mots-clés : | Analogiques-numérique CAN ADC -- Convertisseurs
Température -- Tests
Electronique en haute température
Performance des CAN EOB
Cartes d’évaluation
Technologie
Forages pétroliers ADS1244 THS1030 AD7690 | | Index. décimale : | PN01307 | | Résumé : | Ce mémoire a été effectué au sein de Schlumberger, compagnie
de services pétroliers, qui utilise l’électronique dans des conditions sévères en termes de pression et de température.
Nous nous sommes intéressés à l’influence de la température sur les convertisseurs analogique-numérique, en étudiant les phénomènes sévissant en haute température.
Nous nous sommes, pour cela, initiés aux convertisseurs analogique-numérique, et aux différents procédés de qualification de ces derniers.
Nous avons montré différentes techniques permettant la détermination des caractéristiques des ADC, dont les plus importantes sont: la résolution « ENOB », la vitesse de conversion, et la consommation.
Et ce, pour trois ADC de familles et de caractéristiques différentes.
En mettant en évidence tous les moyens utilisés, du point de vue matériel: cartes d’évaluations, appareillages de mesure et dispositifs de set up, et du point de vue logiciel: les protocoles de transfert de données et programmes en C, en VHDL et MATLAB, utilisés pour le traitement et le transfert des données.
Nous avons finalement constaté que l’influence de la température était loin d’être négligeable, et son importance dépendait de la technologie du composant, comme l’ont montré les tests effectués sur les convertisseurs: ADS1244 de Texas Instruments, le THS1030 de Texas Instruments et l’AD7690 d’Analog Devices.
Ainsi, après une brève présentation de Schlumberger dans le chapitre I, nous avons commencé par introduire les effets de la haute température sur les composants électroniques, dans le chapitre II, qui nous permettront de comprendre et de justifier les tests qui seront effectués.
Une étude théorique introduisant les ADCs fera l’objet du 3ème chapitre, nous aidant à comprendre leur fonctionnement, leurs différents types, ainsi que les paramètres caractérisant ces derniers, et qui seront exploités lors des tests.
Dans le chapitre IV, nous justifierons le choix des convertisseurs, ainsi que le plan de travail choisi et les méthodes de tests.
Ces tests seront décrits à travers les chapitres V à VII.
Nous clôturerons ce rapport par une discussion des résultats obtenus et donnons nos conclusions. |
Etude et qualification des convertisseurs analogique-digital en haute température [texte imprimé] / Toumi, Mohamed Seghir Hamza, Auteur ; Hamami, Latifa, Directeur de thèse . - [S.l.] : [s.n.], 2007 . - 115 f. : ill. ; 30 cm. + 1 CD-ROM. Mémoire de Projet de Fin d'Etudes: Electronique: Alger, Ecole Nationale Polytechnique: 2007
Annexe f. I - LXVIII . - Bibliogr. f. LXIX - LXXIV Langues : Français ( fre) | Mots-clés : | Analogiques-numérique CAN ADC -- Convertisseurs
Température -- Tests
Electronique en haute température
Performance des CAN EOB
Cartes d’évaluation
Technologie
Forages pétroliers ADS1244 THS1030 AD7690 | | Index. décimale : | PN01307 | | Résumé : | Ce mémoire a été effectué au sein de Schlumberger, compagnie
de services pétroliers, qui utilise l’électronique dans des conditions sévères en termes de pression et de température.
Nous nous sommes intéressés à l’influence de la température sur les convertisseurs analogique-numérique, en étudiant les phénomènes sévissant en haute température.
Nous nous sommes, pour cela, initiés aux convertisseurs analogique-numérique, et aux différents procédés de qualification de ces derniers.
Nous avons montré différentes techniques permettant la détermination des caractéristiques des ADC, dont les plus importantes sont: la résolution « ENOB », la vitesse de conversion, et la consommation.
Et ce, pour trois ADC de familles et de caractéristiques différentes.
En mettant en évidence tous les moyens utilisés, du point de vue matériel: cartes d’évaluations, appareillages de mesure et dispositifs de set up, et du point de vue logiciel: les protocoles de transfert de données et programmes en C, en VHDL et MATLAB, utilisés pour le traitement et le transfert des données.
Nous avons finalement constaté que l’influence de la température était loin d’être négligeable, et son importance dépendait de la technologie du composant, comme l’ont montré les tests effectués sur les convertisseurs: ADS1244 de Texas Instruments, le THS1030 de Texas Instruments et l’AD7690 d’Analog Devices.
Ainsi, après une brève présentation de Schlumberger dans le chapitre I, nous avons commencé par introduire les effets de la haute température sur les composants électroniques, dans le chapitre II, qui nous permettront de comprendre et de justifier les tests qui seront effectués.
Une étude théorique introduisant les ADCs fera l’objet du 3ème chapitre, nous aidant à comprendre leur fonctionnement, leurs différents types, ainsi que les paramètres caractérisant ces derniers, et qui seront exploités lors des tests.
Dans le chapitre IV, nous justifierons le choix des convertisseurs, ainsi que le plan de travail choisi et les méthodes de tests.
Ces tests seront décrits à travers les chapitres V à VII.
Nous clôturerons ce rapport par une discussion des résultats obtenus et donnons nos conclusions. |
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