Robustesse des étalonnages multidimensionnels: application aux données spectrales / Roger, Jean-Michel in Techniques de l'ingénieur SL, Vol. SL1 (Trimestriel)  

Public ISBD [article]  inTechniques de l'ingénieur SL > Vol. SL1 (Trimestriel) . - 11p. Titre : Robustesse des étalonnages multidimensionnels: application aux données spectrales Type de document : texte imprimé Auteurs : Roger, Jean-Michel, Auteur Année de publication : 2007 Article en page(s) : 11p. Note générale : Bibliogr. Langues : Français (fre) Mots-clés : Robustesse Etalonnages multidimensionnels Résumé : L'utilisation d'appareils de mesure délivrant des signaux complexes, comme des spectromètres ou des chromatographes, requiert une phase d'étalonnage, dont la robustesse peut poser des problèmes. cet article propose d'examiner cette question, tout d'abord en explicitant le problème de la robustesse, puis en proposant des solutions d'amélioration. Des exemples pratiques illustrent les différentes notions et méthodes abordées. REFERENCE : SL 265 DEWEY : 620 Date : Décembre 2010 En ligne : www.techniques-ingenieur.fr [article] Robustesse des étalonnages multidimensionnels: application aux données spectrales [texte imprimé] / Roger, Jean-Michel, Auteur . - 2007 . - 11p. Bibliogr. Langues : Français (fre) in Techniques de l'ingénieur SL > Vol. SL1 (Trimestriel) . - 11p. Mots-clés : Robustesse Etalonnages multidimensionnels Résumé : L'utilisation d'appareils de mesure délivrant des signaux complexes, comme des spectromètres ou des chromatographes, requiert une phase d'étalonnage, dont la robustesse peut poser des problèmes. cet article propose d'examiner cette question, tout d'abord en explicitant le problème de la robustesse, puis en proposant des solutions d'amélioration. Des exemples pratiques illustrent les différentes notions et méthodes abordées. REFERENCE : SL 265 DEWEY : 620 Date : Décembre 2010 En ligne : www.techniques-ingenieur.fr

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