Titre :	Fiabilité des systèmes VLSI : test, testabilité et vérification des machines séquentielles
Type de document :	texte imprimé
Auteurs :	Belaifa, Salah Salim, Auteur ; Farah, Ahcene, Directeur de thèse
Editeur :	[S.l.] : [s.n.]
Année de publication :	1998
Importance :	70 f.
Présentation :	ill.
Format :	30 cm.
Note générale :	Mémoire de Projet de Fin d’Études : Électronique : Alger, École Nationale Polytechnique: 1998 Annexe [15] f. - Bibliogr. [1] f
Langues :	Français (fre)
Mots-clés :	Circuit intégré Système VLSI Temps optimal
Index. décimale :	PN01098
Résumé :	Ce travail comporte deux parties: * La première partie a pour but de donner les fondements de base de la fiabilité, test, et vérification des circuits intégrés en particulier les systèmes VLSI. * La deuxième partie consiste à réaliser un logiciel de simulation des méthodes de tests et de vérifications. L'objectif essentiel est de vérifier la fonctionnalité d'un circuit intégré en un temps optimal (gain en temps), en utilisant différentes méthodes et techniques de vérifications.

Fiabilité des systèmes VLSI : test, testabilité et vérification des machines séquentielles [texte imprimé] / Belaifa, Salah Salim, Auteur ; Farah, Ahcene, Directeur de thèse . - [S.l.] : [s.n.], 1998 . - 70 f. : ill. ; 30 cm.
Mémoire de Projet de Fin d’Études : Électronique : Alger, École Nationale Polytechnique: 1998
Annexe [15] f. - Bibliogr. [1] f
Langues : Français (fre)

Mots-clés :	Circuit intégré Système VLSI Temps optimal
Index. décimale :	PN01098
Résumé :	Ce travail comporte deux parties: * La première partie a pour but de donner les fondements de base de la fiabilité, test, et vérification des circuits intégrés en particulier les systèmes VLSI. * La deuxième partie consiste à réaliser un logiciel de simulation des méthodes de tests et de vérifications. L'objectif essentiel est de vérifier la fonctionnalité d'un circuit intégré en un temps optimal (gain en temps), en utilisant différentes méthodes et techniques de vérifications.