| Titre : | Fiabilité des systèmes VLSI : test, testabilité et vérification des machines séquentielles |
| Auteurs : | Belaifa, Salah Salim, Auteur ; Farah, Ahcene, Directeur de thèse |
| Type de document : | texte imprimé |
| Editeur : | [S.l.] : [s.n.], 1998 |
| Format : | 70 f. / ill. / 30 cm. |
| Note générale : |
Mémoire de Projet de Fin d’Études : Électronique : Alger, École Nationale Polytechnique: 1998
Annexe [15] f. - Bibliogr. [1] f |
| Langues : | Français |
| Index. décimale : | PN01098 |
| Tags : | Circuit intégré Système VLSI Temps optimal |
| Résumé : |
Ce travail comporte deux parties:
* La première partie a pour but de donner les fondements de base de la fiabilité, test, et vérification des circuits intégrés en particulier les systèmes VLSI. * La deuxième partie consiste à réaliser un logiciel de simulation des méthodes de tests et de vérifications. L'objectif essentiel est de vérifier la fonctionnalité d'un circuit intégré en un temps optimal (gain en temps), en utilisant différentes méthodes et techniques de vérifications. |
Exemplaires (1)
| Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité | Spécialité | Etat_Exemplaire |
|---|---|---|---|---|---|---|
| PN01098 | Papier + ressource électronique | Bibliothèque centrale | Projet Fin d'Etudes | Disponible | Electronique | Consultation sur place/Téléchargeable |
Documents numériques (1)
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BELAIFA.Salah-Salim.pdf URL
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