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Auteur Patrick Bouchareine
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Affiner la rechercheInterférences de la lumière . Théorie et applications / Patrick Bouchareine
in Techniques de l'ingénieur : mesures mécanique et dimensionnelles Ti673. Métrologie optique et photonique / Marc Priel
Titre : Interférences de la lumière . Théorie et applications : réf. internet : R6475 Type de document : texte imprimé Auteurs : Patrick Bouchareine, Auteur Editeur : Paris : Techniques de l'ingénieur Année de publication : 2002 Importance : p.261-286 Note générale : Bibliogr. p. 285 Langues : Français (fre) Mots-clés : Lumière, Théorie Lumière -- Interférences Note de contenu : sommaire:
1. Interférences à deux ondes : les fentes d’young
2. Premiers interféromètres à deux ondes
3. L’interféromètre de michelson
4. Interféromètre de mach-zehnder
5. Interférences à ondes multiples
Interféromètres à polarisation
Applications des interféromètres
Conclusion
in Techniques de l'ingénieur : mesures mécanique et dimensionnelles Ti673. Métrologie optique et photonique / Marc Priel
Interférences de la lumière . Théorie et applications : réf. internet : R6475 [texte imprimé] / Patrick Bouchareine, Auteur . - Paris : Techniques de l'ingénieur, 2002 . - p.261-286.
Bibliogr. p. 285
Langues : Français (fre)
Mots-clés : Lumière, Théorie Lumière -- Interférences Note de contenu : sommaire:
1. Interférences à deux ondes : les fentes d’young
2. Premiers interféromètres à deux ondes
3. L’interféromètre de michelson
4. Interféromètre de mach-zehnder
5. Interférences à ondes multiples
Interféromètres à polarisation
Applications des interféromètres
Conclusion
Exemplaires
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité aucun exemplaire Métrologie des surfaces / Patrick Bouchareine in Techniques de l'ingénieur TRI, Vol. TRI 2 (Autre)
in Techniques de l'ingénieur TRI > Vol. TRI 2 (Autre) . - 15 p.
Titre : Métrologie des surfaces Type de document : texte imprimé Auteurs : Patrick Bouchareine, Auteur Année de publication : 2011 Article en page(s) : 15 p. Note générale : Bibliogr. Langues : Français (fre) Mots-clés : Métrologie Résumé : La surface d’un solide est un domaine à deux dimensions où se situent les interactions du solide avec le monde extérieur. La physique des surfaces a beaucoup progressé en cette deuxième moitié du vingtième siècle, et de nombreux domaines d’activités industrielles sont directement concernés par cette discipline. C’est à la surface d’un solide que se produisent les réactions chimiques qui la font évoluer et que se manifestent les phénomènes de frottements, d’usure, des adsorptions de contaminants divers. Depuis la métrologie des masses jusqu’au fonctionnement des paliers, depuis les états rectifiés des surfaces mécaniques jusqu’au superpoli des surfaces optiques, la métrologie des surfaces joue un rôle essentiel dans le contrôle de composants mécaniques, optiques ou électroniques.
Les propriétés d'une surface sont extraordinairement nombreuses et complexes. On cherche à les caractériser par des paramètres simples qui ne donneront bien évidemment jamais une représentation complète de ces propriétés. C'est pourquoi l'expérience est essentielle pour pouvoir déduire des observations la réponse à la question : la surface remplira-t-elle correctement ses fonctions ?
Dans la plupart des normes qui traitent des surfaces, l'examen visuel et tactile est souvent le premier cité. Quoique qualitatif, il représente souvent une synthèse de paramètres difficilement quantifiables par d'autres moyens : texture, teinte, aspects en lumières diverses, sensations mécaniques et thermiques. Comme pour un médecin qui sait voir dans une radiographie ou un scanner les éléments qui lui permettront de déterminer son diagnostic, l'expérience seule permet à un ingénieur ou à un technicien de tirer des images directes ou indirectes mises à notre disposition par l'instrumentation moderne, les conclusions sur la conformité de la surface à un cahier des charges particulier.
Nous analyserons dans cet article diverses méthodes qui permettent de caractériser les surfaces par leurs propriétés géométriques macroscopiques (forme : rectitude, planéité ou circularité), et microscopiques (rugosité). Nous décrirons quelques instruments permettant d'accéder à ces propriétés et nous en citerons d'autres comme les microscopes en champ proche ou les microscopes à force atomique.
Nota :
nous ne parlerons pas de toute une catégorie d'analyses physico-chimiques des surfaces que l'on trouvera décrites en particulier dans le volume « Analyse et Caractérisation » :
Microscopie optique ;
Microscopies électroniques ;
Microscopie ionique à effet de champ ;
Analyse par émission ionique secondaire (SIMS) ;
Spectroscopie des électrons Auger ;
Spectroscopie de photo électrons : XPS ou ESCA et UPS.
On trouvera ailleurs une description plus complète des microscopes à effet tunnel (Techniques de l'Ingénieur, [P 895]).REFERENCE : R 1 390 DEWEY : 621.8 Date : Septembre 1999 En ligne : http://www.techniques-ingenieur.fr/base-documentaire/mecanique-th7/tribologie-ti [...] [article] Métrologie des surfaces [texte imprimé] / Patrick Bouchareine, Auteur . - 2011 . - 15 p.
Bibliogr.
Langues : Français (fre)
in Techniques de l'ingénieur TRI > Vol. TRI 2 (Autre) . - 15 p.
Mots-clés : Métrologie Résumé : La surface d’un solide est un domaine à deux dimensions où se situent les interactions du solide avec le monde extérieur. La physique des surfaces a beaucoup progressé en cette deuxième moitié du vingtième siècle, et de nombreux domaines d’activités industrielles sont directement concernés par cette discipline. C’est à la surface d’un solide que se produisent les réactions chimiques qui la font évoluer et que se manifestent les phénomènes de frottements, d’usure, des adsorptions de contaminants divers. Depuis la métrologie des masses jusqu’au fonctionnement des paliers, depuis les états rectifiés des surfaces mécaniques jusqu’au superpoli des surfaces optiques, la métrologie des surfaces joue un rôle essentiel dans le contrôle de composants mécaniques, optiques ou électroniques.
Les propriétés d'une surface sont extraordinairement nombreuses et complexes. On cherche à les caractériser par des paramètres simples qui ne donneront bien évidemment jamais une représentation complète de ces propriétés. C'est pourquoi l'expérience est essentielle pour pouvoir déduire des observations la réponse à la question : la surface remplira-t-elle correctement ses fonctions ?
Dans la plupart des normes qui traitent des surfaces, l'examen visuel et tactile est souvent le premier cité. Quoique qualitatif, il représente souvent une synthèse de paramètres difficilement quantifiables par d'autres moyens : texture, teinte, aspects en lumières diverses, sensations mécaniques et thermiques. Comme pour un médecin qui sait voir dans une radiographie ou un scanner les éléments qui lui permettront de déterminer son diagnostic, l'expérience seule permet à un ingénieur ou à un technicien de tirer des images directes ou indirectes mises à notre disposition par l'instrumentation moderne, les conclusions sur la conformité de la surface à un cahier des charges particulier.
Nous analyserons dans cet article diverses méthodes qui permettent de caractériser les surfaces par leurs propriétés géométriques macroscopiques (forme : rectitude, planéité ou circularité), et microscopiques (rugosité). Nous décrirons quelques instruments permettant d'accéder à ces propriétés et nous en citerons d'autres comme les microscopes en champ proche ou les microscopes à force atomique.
Nota :
nous ne parlerons pas de toute une catégorie d'analyses physico-chimiques des surfaces que l'on trouvera décrites en particulier dans le volume « Analyse et Caractérisation » :
Microscopie optique ;
Microscopies électroniques ;
Microscopie ionique à effet de champ ;
Analyse par émission ionique secondaire (SIMS) ;
Spectroscopie des électrons Auger ;
Spectroscopie de photo électrons : XPS ou ESCA et UPS.
On trouvera ailleurs une description plus complète des microscopes à effet tunnel (Techniques de l'Ingénieur, [P 895]).REFERENCE : R 1 390 DEWEY : 621.8 Date : Septembre 1999 En ligne : http://www.techniques-ingenieur.fr/base-documentaire/mecanique-th7/tribologie-ti [...]
in Techniques de l'ingénieur : tribologie Ti574. Surfaces / Eric Felder
Titre : Métrologie des surfaces : réf. internet R 1390 Type de document : texte imprimé Auteurs : Patrick Bouchareine, Auteur Année de publication : 1999 Importance : p. 55-71 Note générale : Bibliogr. p. 71 Langues : Français (fre) Mots-clés : Surface -- métrologie
Surface -- défauts Rugosité
Sondes de surfaceNote de contenu : Sommaire:
1. Etats de surface et écarts de forme
2. Fréquences spatiales à deux dimensions
3. Ecarts de forme
4. Contrôle des défauts de courtes périodes spatiales. profilométrie par faisceau laser
5. Rugosité
6 - au-delà de la rugosité, les nouvelles microscopies, sondes de surface
7 - conclusion
in Techniques de l'ingénieur : tribologie Ti574. Surfaces / Eric Felder
Métrologie des surfaces : réf. internet R 1390 [texte imprimé] / Patrick Bouchareine, Auteur . - 1999 . - p. 55-71.
Bibliogr. p. 71
Langues : Français (fre)
Mots-clés : Surface -- métrologie
Surface -- défauts Rugosité
Sondes de surfaceNote de contenu : Sommaire:
1. Etats de surface et écarts de forme
2. Fréquences spatiales à deux dimensions
3. Ecarts de forme
4. Contrôle des défauts de courtes périodes spatiales. profilométrie par faisceau laser
5. Rugosité
6 - au-delà de la rugosité, les nouvelles microscopies, sondes de surface
7 - conclusionExemplaires
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité aucun exemplaire
in Techniques de l'ingénieur : mesures mécanique et dimensionnelles Ti673. Mesures tridimensionnelles et états de surface / Saida Guellati
Titre : Métrologie des surfaces : réf. internet R1390 Type de document : texte imprimé Auteurs : Patrick Bouchareine, Auteur Année de publication : 1999 Importance : p.145-162 Note générale : Bibliogr. p.161 Langues : Français (fre) Mots-clés : Surfaces,Métrologie Note de contenu : Sommaire:
1. États de surface et écarts de forme
2. réquences spatiales à deux dimensions
3. Ecarts de forme
4. Contrôle des défauts de courtes périodes spatiales. Profilométrie par faisceau laser
5. Rugosité
6. Au-delà de la rugosité, les nouvelles microscopies, sondes de surface
7. Conclusion
in Techniques de l'ingénieur : mesures mécanique et dimensionnelles Ti673. Mesures tridimensionnelles et états de surface / Saida Guellati
Métrologie des surfaces : réf. internet R1390 [texte imprimé] / Patrick Bouchareine, Auteur . - 1999 . - p.145-162.
Bibliogr. p.161
Langues : Français (fre)
Mots-clés : Surfaces,Métrologie Note de contenu : Sommaire:
1. États de surface et écarts de forme
2. réquences spatiales à deux dimensions
3. Ecarts de forme
4. Contrôle des défauts de courtes périodes spatiales. Profilométrie par faisceau laser
5. Rugosité
6. Au-delà de la rugosité, les nouvelles microscopies, sondes de surface
7. ConclusionExemplaires
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité aucun exemplaire
in Techniques de l'ingénieur : mesures mécanique et dimensionnelles Ti673. Métrologie optique et photonique / Marc Priel
Titre : Spectrométrie optique : réf. internet R 6310 Type de document : texte imprimé Auteurs : Patrick Bouchareine, Auteur Editeur : Paris : Techniques de l'ingénieur Année de publication : 1994 Importance : p.47-80 Note générale : Bibliogr. p.79 Langues : Français (fre) Mots-clés : Spectrométrie -- optique Note de contenu : Sommaire:
1. Définitions
2. spectromètres à fentes
3. spectromètres à prisme
4. spectromètres à réseau
5. spectromètres par transformation de fourier
6. spectromètres à modulation sélective
7. spectromètre de fabry et perot
8. spectrométrie par laser
9. Pouvoir de résolution théorique des spectromètres optiques
in Techniques de l'ingénieur : mesures mécanique et dimensionnelles Ti673. Métrologie optique et photonique / Marc Priel
Spectrométrie optique : réf. internet R 6310 [texte imprimé] / Patrick Bouchareine, Auteur . - Paris : Techniques de l'ingénieur, 1994 . - p.47-80.
Bibliogr. p.79
Langues : Français (fre)
Mots-clés : Spectrométrie -- optique Note de contenu : Sommaire:
1. Définitions
2. spectromètres à fentes
3. spectromètres à prisme
4. spectromètres à réseau
5. spectromètres par transformation de fourier
6. spectromètres à modulation sélective
7. spectromètre de fabry et perot
8. spectrométrie par laser
9. Pouvoir de résolution théorique des spectromètres optiques
Exemplaires
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité aucun exemplaire
