| Titre : | Simulation en VHDL et génération de test : application à un multiplieur |
| Auteurs : | Laidi, Kamel, Auteur ; Boubakir, Chaâbane, Auteur ; Farah, A., Directeur de thèse |
| Type de document : | texte imprimé |
| Editeur : | [S.l.] : [s.n.], 1995 |
| Format : | 67 f. / ill. / 30 cm. |
| Note générale : |
Mémoire de Projet de Fin d’Études : Électronique : Alger, École Nationale Polytechnique : 1995
Annexe [4] f. - Bibliogr. [2] f |
| Langues : | Français |
| Index. décimale : | PN01295 |
| Tags : | Simulation en VHDL Circuits logiques Description du matériel Multiplieur de nombres entiers Testabilité des circuits intégrés Approche hiérarchique Multiplieur simulé |
| Résumé : |
Ce travail contient deux parties principales:
* La première traite la manière de simulation en VHDL des circuits logiques par le langage de description de matériel VLSI nommé VHDL, ainsi qu'une application de ce langage pour élaborer un programme d'un multiplieur des nombres entiers * La deuxième partie traite le test et la testabilité des circuits intégrés, les différentes approches de vérification de leurs fonctionnalités, puis une application d'une approche hiérarchique de génération de test pour le multiplieur simulé. |
Exemplaires (1)
| Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité | Spécialité | Etat_Exemplaire |
|---|---|---|---|---|---|---|
| PN01295 | Papier + ressource électronique | Bibliothèque centrale | Projet Fin d'Etudes | Disponible | Electronique | Consultation sur place/Téléchargeable |
Documents numériques (1)
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LAIDI.Kamel_BOUBAKIR.Chaabane.pdf URL
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