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Auteur Etienne Sicard
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Affiner la rechercheLa compatibilité électromagnétique dans les circuits intégrés / Mohamed Ramdani in Techniques de l'ingénieur E, Vol. E4 (Trimestriel)
in Techniques de l'ingénieur E > Vol. E4 (Trimestriel) . - 22 p.
Titre : La compatibilité électromagnétique dans les circuits intégrés Type de document : texte imprimé Auteurs : Mohamed Ramdani, Auteur ; Etienne Sicard, Auteur ; Sonia Bendhia, Auteur Année de publication : 2007 Article en page(s) : 22 p. Langues : Français (fre) Mots-clés : Électromagnétique; Circuits intégrés; Méyhodes de mesure cem; CEM; ICEM; Susceptibilité des circuits intégrés Résumé : La directive européenne définit la compatibilité électromagnétique (CEM) comme étant :
« L’aptitude d’un dispositif, d’un appareil ou d’un système à fonctionner dans son environnement électromagnétique de façon satisfaisante et sans produire lui-même des perturbations électromagnétiques intolérables pour tout ce qui se trouve dans cet environnement ».
Depuis une dizaine d’années, les circuits intégrés et plus particulièrement le composant rejoignent les appareils et les systèmes dans le domaine de la CEM.
En effet, l’apparition des nouvelles matrices de portes logiques à haute densité (plusieurs centaines de milliers de portes à plusieurs millions de portes), les nouvelles technologies (0,25 µm, 0,18 µm, 0,12 µm et bientôt moins de 90 nm) et les méthodes de conception haut niveau de type SOC (System On Chip), autorisent une forte intégration de fonctions complexes et rapides tels que processeurs de signaux numériques spécialisés, chaînes de traitement de signal, séquenceurs complexes d’algorithme de télécommunications, etc. Cela ne reste pas sans conséquences : la commutation simultanée de milliers de bascules, des variations rapides de courant sur les différents rails d’alimentation, des variations de potentiel sur les alimentations internes et externes qui peuvent être de l’ordre de grandeur des seuils logiques des portes. On entre de plain-pied dans le domaine de la compatibilité électromagnétique des circuits intégrés.REFERENCE : E 2 475 Date : Aoüt 2004 En ligne : http://www.techniques-ingenieur.fr/base-documentaire/electronique-automatique-th [...] [article] La compatibilité électromagnétique dans les circuits intégrés [texte imprimé] / Mohamed Ramdani, Auteur ; Etienne Sicard, Auteur ; Sonia Bendhia, Auteur . - 2007 . - 22 p.
Langues : Français (fre)
in Techniques de l'ingénieur E > Vol. E4 (Trimestriel) . - 22 p.
Mots-clés : Électromagnétique; Circuits intégrés; Méyhodes de mesure cem; CEM; ICEM; Susceptibilité des circuits intégrés Résumé : La directive européenne définit la compatibilité électromagnétique (CEM) comme étant :
« L’aptitude d’un dispositif, d’un appareil ou d’un système à fonctionner dans son environnement électromagnétique de façon satisfaisante et sans produire lui-même des perturbations électromagnétiques intolérables pour tout ce qui se trouve dans cet environnement ».
Depuis une dizaine d’années, les circuits intégrés et plus particulièrement le composant rejoignent les appareils et les systèmes dans le domaine de la CEM.
En effet, l’apparition des nouvelles matrices de portes logiques à haute densité (plusieurs centaines de milliers de portes à plusieurs millions de portes), les nouvelles technologies (0,25 µm, 0,18 µm, 0,12 µm et bientôt moins de 90 nm) et les méthodes de conception haut niveau de type SOC (System On Chip), autorisent une forte intégration de fonctions complexes et rapides tels que processeurs de signaux numériques spécialisés, chaînes de traitement de signal, séquenceurs complexes d’algorithme de télécommunications, etc. Cela ne reste pas sans conséquences : la commutation simultanée de milliers de bascules, des variations rapides de courant sur les différents rails d’alimentation, des variations de potentiel sur les alimentations internes et externes qui peuvent être de l’ordre de grandeur des seuils logiques des portes. On entre de plain-pied dans le domaine de la compatibilité électromagnétique des circuits intégrés.REFERENCE : E 2 475 Date : Aoüt 2004 En ligne : http://www.techniques-ingenieur.fr/base-documentaire/electronique-automatique-th [...] La compatibilité électromagnétique dans les circuits intégrés / Mohamed Ramdani
in Techniques de l'ingénieur : électronique Ti350. Compatibilité électromagnétique dans les systèmes électroniques / Guillaume Bernard
Titre : La compatibilité électromagnétique dans les circuits intégrés : réf. internet E 2475 Type de document : texte imprimé Auteurs : Mohamed Ramdani, Auteur ; Etienne Sicard, Auteur ; Sonia Bendhia, Auteur ; Sébastien Calvet, Auteur Année de publication : 2004 Importance : p. 259-281 Note générale : Bibliogr. : p.281 Langues : Français (fre) Mots-clés : Électromagnétique -- compatibilité Note de contenu : Sommaire :
1. Généralités
2. Modélisation de l’émission parasite
3. Etat d’avancement des travaux des comités normatifs
4. Origines des émissions parasites des circuits intégrés
5. Méthodes de mesure cem des circuits intégrés
6. Vers un modèle des circuits intégrés : icem
7. Susceptibilité des circuits intégrés
8. Conclusion
in Techniques de l'ingénieur : électronique Ti350. Compatibilité électromagnétique dans les systèmes électroniques / Guillaume Bernard
La compatibilité électromagnétique dans les circuits intégrés : réf. internet E 2475 [texte imprimé] / Mohamed Ramdani, Auteur ; Etienne Sicard, Auteur ; Sonia Bendhia, Auteur ; Sébastien Calvet, Auteur . - 2004 . - p. 259-281.
Bibliogr. : p.281
Langues : Français (fre)
Mots-clés : Électromagnétique -- compatibilité Note de contenu : Sommaire :
1. Généralités
2. Modélisation de l’émission parasite
3. Etat d’avancement des travaux des comités normatifs
4. Origines des émissions parasites des circuits intégrés
5. Méthodes de mesure cem des circuits intégrés
6. Vers un modèle des circuits intégrés : icem
7. Susceptibilité des circuits intégrés
8. ConclusionExemplaires
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité aucun exemplaire
in Techniques de l'ingénieur E > Vol. E4 (Trimestriel) . - 21 p.
Titre : Compatibilité électromagnétique : notions fondamentales Type de document : texte imprimé Auteurs : Olivier Maurice, Auteur ; Alain Reineix, Auteur ; Etienne Sicard, Auteur Année de publication : 2007 Article en page(s) : 21 p. Note générale : Bibliogr. Langues : Français (fre) Mots-clés : Électrostatiques Magnétostatiques Résumé : Cette partie a pour objet le rappel de notions fondamentales pour la CEM, qui pourront être utilisées dans l'ensemble des articles traitant de la CEM de projets. Des renvois sont effectués lorsque les notions rejoignent celles des cours d'électromagnétisme pour l'ingénieur. On s'attache ici à rappeler des notions plus spécifiques au métier de la compatibilité électromagnétique. On aborde tout d'abord les principes qui prévalent aux interactions conduites ou de champs proches (interactions électrostatiques, magnétostatiques). Puis on aborde les interactions d'ondes guidées ou rayonnées. Une méthode de calcul dite « méthode de Kron » est présentée dans le paragraphe 3, qui permet de calculer rapidement de nombreux problèmes et d'une façon très efficace. Cette méthode permettra à tout ingénieur d'évaluer des problèmes de CEM déjà complexes et qui ne seraient pas, ou très difficilement, calculables par l'intermédiaire des outils disponibles sur le marché. Comme la méthode est utilisée dans tous les paragraphes comme exemple et support d'exercices, nous la présentons en premier. Enfin nous abordons les effets des particules sur les composants et les approches « CEM » de ces derniers. REFERENCE : E 1 302 DEWEY : 621.381 Date : Mai 2011 En ligne : http://www.techniques-ingenieur.fr/base-documentaire/electronique-photonique-th1 [...] [article] Compatibilité électromagnétique : notions fondamentales [texte imprimé] / Olivier Maurice, Auteur ; Alain Reineix, Auteur ; Etienne Sicard, Auteur . - 2007 . - 21 p.
Bibliogr.
Langues : Français (fre)
in Techniques de l'ingénieur E > Vol. E4 (Trimestriel) . - 21 p.
Mots-clés : Électrostatiques Magnétostatiques Résumé : Cette partie a pour objet le rappel de notions fondamentales pour la CEM, qui pourront être utilisées dans l'ensemble des articles traitant de la CEM de projets. Des renvois sont effectués lorsque les notions rejoignent celles des cours d'électromagnétisme pour l'ingénieur. On s'attache ici à rappeler des notions plus spécifiques au métier de la compatibilité électromagnétique. On aborde tout d'abord les principes qui prévalent aux interactions conduites ou de champs proches (interactions électrostatiques, magnétostatiques). Puis on aborde les interactions d'ondes guidées ou rayonnées. Une méthode de calcul dite « méthode de Kron » est présentée dans le paragraphe 3, qui permet de calculer rapidement de nombreux problèmes et d'une façon très efficace. Cette méthode permettra à tout ingénieur d'évaluer des problèmes de CEM déjà complexes et qui ne seraient pas, ou très difficilement, calculables par l'intermédiaire des outils disponibles sur le marché. Comme la méthode est utilisée dans tous les paragraphes comme exemple et support d'exercices, nous la présentons en premier. Enfin nous abordons les effets des particules sur les composants et les approches « CEM » de ces derniers. REFERENCE : E 1 302 DEWEY : 621.381 Date : Mai 2011 En ligne : http://www.techniques-ingenieur.fr/base-documentaire/electronique-photonique-th1 [...]
in Techniques de l'ingénieur E > Vol. E2 (Trimestriel) . - 21 p.
Titre : Compatibilité électromagnétique : Notions fondamentales Type de document : texte imprimé Auteurs : Olivier Maurice, Auteur ; Alain Reineix, Auteur ; Etienne Sicard, Auteur Année de publication : 2007 Article en page(s) : 21 p. Note générale : bibliogr. Langues : Français (fre) Mots-clés : Electromagnétique; Ondes; Champ lointain; Poynting; Blindages de cables; Interaction électroniques; Nucléaires Résumé : Cette partie a pour objet le rappel de notions fondamentales pour la CEM, qui pourront être utilisées dans l'ensemble des articles traitant de la CEM de projets. Des renvois sont effectués lorsque les notions rejoignent celles des cours d'électromagnétisme pour l'ingénieur. On s'attache ici à rappeler des notions plus spécifiques au métier de la compatibilité électromagnétique. On aborde tout d'abord les principes qui prévalent aux interactions conduites ou de champs proches (interactions électrostatiques, magnétostatiques). Puis on aborde les interactions d'ondes guidées ou rayonnées. Une méthode de calcul dite « méthode de Kron » est présentée dans le paragraphe 3, qui permet de calculer rapidement de nombreux problèmes et d'une façon très efficace. Cette méthode permettra à tout ingénieur d'évaluer des problèmes de CEM déjà complexes et qui ne seraient pas, ou très difficilement, calculables par l'intermédiaire des outils disponibles sur le marché. Comme la méthode est utilisée dans tous les paragraphes comme exemple et support d'exercices, nous la présentons en premier. Enfin nous abordons les effets des particules sur les composants et les approches « CEM » de ces derniers. REFERENCE : E 1 302 Date : MAI 2011 En ligne : http://www.techniques-ingenieur.fr/base-documentaire/electronique-automatique-th [...] [article] Compatibilité électromagnétique : Notions fondamentales [texte imprimé] / Olivier Maurice, Auteur ; Alain Reineix, Auteur ; Etienne Sicard, Auteur . - 2007 . - 21 p.
bibliogr.
Langues : Français (fre)
in Techniques de l'ingénieur E > Vol. E2 (Trimestriel) . - 21 p.
Mots-clés : Electromagnétique; Ondes; Champ lointain; Poynting; Blindages de cables; Interaction électroniques; Nucléaires Résumé : Cette partie a pour objet le rappel de notions fondamentales pour la CEM, qui pourront être utilisées dans l'ensemble des articles traitant de la CEM de projets. Des renvois sont effectués lorsque les notions rejoignent celles des cours d'électromagnétisme pour l'ingénieur. On s'attache ici à rappeler des notions plus spécifiques au métier de la compatibilité électromagnétique. On aborde tout d'abord les principes qui prévalent aux interactions conduites ou de champs proches (interactions électrostatiques, magnétostatiques). Puis on aborde les interactions d'ondes guidées ou rayonnées. Une méthode de calcul dite « méthode de Kron » est présentée dans le paragraphe 3, qui permet de calculer rapidement de nombreux problèmes et d'une façon très efficace. Cette méthode permettra à tout ingénieur d'évaluer des problèmes de CEM déjà complexes et qui ne seraient pas, ou très difficilement, calculables par l'intermédiaire des outils disponibles sur le marché. Comme la méthode est utilisée dans tous les paragraphes comme exemple et support d'exercices, nous la présentons en premier. Enfin nous abordons les effets des particules sur les composants et les approches « CEM » de ces derniers. REFERENCE : E 1 302 Date : MAI 2011 En ligne : http://www.techniques-ingenieur.fr/base-documentaire/electronique-automatique-th [...]
in Techniques de l'ingénieur E > Vol. E2 (Trimestriel) . - 13 p.
Titre : Notions de CEM des composants Type de document : texte imprimé Auteurs : Etienne Sicard, Auteur ; Frédéric Lafon, Auteur Année de publication : 2007 Article en page(s) : 13 p. Note générale : bibliogr. Langues : Français (fre) Mots-clés : Circuit intégré; CMOS; IEC; ICEM; ICIM Résumé : Nous donnons dans ce dossier quelques indications sur l’évolution des performances et de l’intégration des circuits intégrés en fonction des nœuds technologiques, en dérivant des paramètres clés pour la compatibilité électromagnétique des composants. Nous présentons ensuite un état de l’art des méthodes de mesures normalisées applicables aux composants, puis illustrons les idées débattues au sein des comités normatifs sur la modélisation de l’émission et de l’immunité. REFERENCE : E 1 318 Date : MAI 2012 En ligne : http://www.techniques-ingenieur.fr/base-documentaire/electronique-automatique-th [...] [article] Notions de CEM des composants [texte imprimé] / Etienne Sicard, Auteur ; Frédéric Lafon, Auteur . - 2007 . - 13 p.
bibliogr.
Langues : Français (fre)
in Techniques de l'ingénieur E > Vol. E2 (Trimestriel) . - 13 p.
Mots-clés : Circuit intégré; CMOS; IEC; ICEM; ICIM Résumé : Nous donnons dans ce dossier quelques indications sur l’évolution des performances et de l’intégration des circuits intégrés en fonction des nœuds technologiques, en dérivant des paramètres clés pour la compatibilité électromagnétique des composants. Nous présentons ensuite un état de l’art des méthodes de mesures normalisées applicables aux composants, puis illustrons les idées débattues au sein des comités normatifs sur la modélisation de l’émission et de l’immunité. REFERENCE : E 1 318 Date : MAI 2012 En ligne : http://www.techniques-ingenieur.fr/base-documentaire/electronique-automatique-th [...]
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