| Titre : | Test des circuits intégrés numériques : Conception orientée testabilité (2007) |
| Auteurs : | Régis Leveugle, Auteur |
| Type de document : | Article : texte imprimé |
| Dans : | Techniques de l'ingénieur E (Vol. E4, Trimestriel) |
| Article en page(s) : | 15 p. |
| Note générale : | bibliogr. |
| Langues : | Français |
| Tags : | Test des circuits intégrés ; Outils cao ; Techniques de dft ; DFT ; Conception d'un circuit |
| Résumé : | Lans la première partie intitulée « Test des circuits intégrés numériques – Notions de base. Génération de vecteurs » Test des circuits intégrés numériques- Notions de base. Génération de vecteursTest des circuits intégrés numériques- Notions de base. Génération de vecteurs, les principaux concepts du domaine ont été introduits. Cette deuxième partie présente plus en détail différentes techniques pouvant être mises en œuvre, pendant la conception d’un circuit, pour faciliter son test en fin de fabrication ou dans l’équipement. Quelques techniques de base employées pour réaliser un test pendant l’exécution de l’application sont également introduites. |
| REFERENCE : | E 2 461 |
| Date : | Aoüt 2002 |
| En ligne : | http://www.techniques-ingenieur.fr/base-documentaire/electronique-automatique-th13/architecture-et-tests-des-circuits-numeriques-42276210/test-des-circuits-integres-numeriques-e2461/ |
