| Titre : | Le microscope à force atomique métrologique (2007) |
| Auteurs : | Sébastien DUCOURTIEUX, Auteur ; Benoît POYET, Auteur |
| Type de document : | Article : texte imprimé |
| Dans : | Techniques de l'Ingéniuer RD. Mesures et controle (Vol. RD1, Trimestriel) |
| Article en page(s) : | pp. 1-22 |
| Note générale : | Nanotechnologies |
| Langues : | Français |
| Tags : | microscopie à force atomique, nanométrologie dimensionnelle, état de l’art, traçabilité, SI, étalon. |
| Résumé : | Cet article décrit le contexte du développement et la mise en œuvre d’un microscope à force atomique métrologique. C’est un instrument de référence, traçable au Système international d’unités et dédié à la pratique de la nanométrologie dimensionnelle. Sa conception spécifique permet de maîtriser l’incertitude de mesure. Il est principalement utilisé pour l’étalonnage des étalons couramment employés dans le domaine de la microscopie en champ proche ou de la microscopie électronique. |
| Note de contenu : | Bibliogr. |
| REFERENCE : | NM 7050 |
| Date : | Août 2013 |
| En ligne : | http://www.techniques-ingenieur.fr/base-documentaire/innovations-th10/nanosciences-concepts-caracterisation-et-aspects-securite-42194210/le-microscope-a-force-atomique-metrologique-nm7050/ |
