| Titre : | Sonde atomique tomographique SAT (2007) |
| Auteurs : | Didier Blavette, Auteur ; François Vurpillot, Auteur ; Bernard Deconihout, Auteur |
| Type de document : | Article : texte imprimé |
| Dans : | Techniques de l'ingénieur TA (Vol. TA1, Trimestriel) |
| Article en page(s) : | pp. 1-15 |
| Note générale : | Techniques d'analyse |
| Langues : | Français |
| Tags : | Sonde atomique ; Tomographique SAT ; Évaporation ; Spectrométrie de masse à temps vol ; Reconstruction 3D ; sonde Chimique des ions |
| Résumé : | La sonde atomique tomographique SAT répond aux besoins croissants d’analyse et d’imagerie en nanotechnologie. Elle permet d’imager un bout d’échantillon atome par atome dans les trois dimensions de l’espace avec une résolution subnanométrique. Elle est d’un usage très répandu : plus de 70 laboratoires académiques ou industriels sont équipés de sa version commerciale et l’utilisent de façon routinière aux côtés d’autres moyens de caractérisation comme le microscope électronique à haute résolution ou le SIMS, qui bien que puissants sont par nature limités à deux dimensions. Dans cet article le principe de la sonde atomique laser est présenté et des exemples applicatifs concrets en nanotechnologie sont donnés. |
| Note de contenu : | Bibliogr. |
| REFERENCE : | P 900v2 |
| Date : | Décembre 2013 |
| En ligne : | http://www.techniques-ingenieur.fr/base-documentaire/mesures-analyses-th1/analyses-de-surface-et-de-materiaux-42383210/sonde-atomique-tomographique-sat-p900/ |
