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Auteur Bas Hendriksen

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Sensing current and forces with SPM / Jeong Y. Park in Materials today, Vol. 13 N° 10 (Octobre 2010)

Public

ISBD

[article]
in Materials today > Vol. 13 N° 10 (Octobre 2010) . - pp. 38-45
Titre : Sensing current and forces with SPM
Type de document : texte imprimé
Auteurs : Jeong Y. Park, Auteur ; Sabine Maier, Auteur ; Bas Hendriksen, Auteur
Année de publication : 2011
Article en page(s) : pp. 38-45
Note générale : Ingénierie
Langues : Anglais (eng)
Mots-clés : Microscopy Atomic force Detection of currents Material properties
Index. décimale : 620 Essais des matériaux. Matériaux commerciaux. Station génératrice d'énergie. Economie de l'énergie
Résumé : Atomic force microscopy (AFM) and scanning tunneling microscopy (STM) are well established techniques to image surfaces and to probe material properties at the atomic and molecular scale. In this review, we show hybrid combinations of AFM and STM that bring together the best of two worlds: the simultaneous detection of atomic scale forces and conduction properties. We illustrate with several examples how the detection of forces in STM and the detection of currents in AFM can give valuable additional information of the nanoscale material properties.

DEWEY : 620
ISSN : 1369-7021
En ligne : http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S1369702110701851

[article] Sensing current and forces with SPM [texte imprimé] / Jeong Y. Park, Auteur ; Sabine Maier, Auteur ; Bas Hendriksen, Auteur . - 2011 . - pp. 38-45.
Ingénierie
Langues : Anglais (eng)
in Materials today > Vol. 13 N° 10 (Octobre 2010) . - pp. 38-45
Mots-clés : Microscopy Atomic force Detection of currents Material properties
Index. décimale : 620 Essais des matériaux. Matériaux commerciaux. Station génératrice d'énergie. Economie de l'énergie
Résumé : Atomic force microscopy (AFM) and scanning tunneling microscopy (STM) are well established techniques to image surfaces and to probe material properties at the atomic and molecular scale. In this review, we show hybrid combinations of AFM and STM that bring together the best of two worlds: the simultaneous detection of atomic scale forces and conduction properties. We illustrate with several examples how the detection of forces in STM and the detection of currents in AFM can give valuable additional information of the nanoscale material properties.

DEWEY : 620
ISSN : 1369-7021
En ligne : http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S1369702110701851