[article]
| Titre : |
Notions de CEM des systèmes |
| Type de document : |
texte imprimé |
| Auteurs : |
Olivier Maurice, Auteur ; Hubert, Guillaume, Auteur ; Yalcin, Evlin, Auteur |
| Année de publication : |
2007 |
| Article en page(s) : |
18 p. |
| Note générale : |
Bibliogr. |
| Langues : |
Français (fre) |
| Mots-clés : |
Notions CEM |
| Résumé : |
Cet article aborde les problématiques de la CEM des systèmes. La notion de système est l'objet de travaux multiples et va au-delà de celle comprise en CEM. Cependant, on s'en inspire pour définir un système comme un regroupement d'électroniques reliées par des liaisons filaires ou antennaires et dévolu à la réalisation d'une fonction.
Aborder la CEM d'un système dans son ensemble est extrêmement compliqué, mais non impossible. Il faut introduire une part de probabilité pour pallier la méconnaissance ou les incertitudes. Plus modestement, les ingénieurs en CEM étudient tous les jours des systèmes plus ou moins complexes, et si aborder un système complet demande des ressources et des budgets rarement disponibles, morceler le système en parties de complexité réduite pour résoudre des problèmes particuliers attachés à des fonctions critiques est un travail régulièrement accompli.
Nous détaillons tout d'abord cette tâche essentielle, en commençant par le morcellement : l'analyse dite « topologique » du système et le découpage en couches de ses structures. Ce découpage permet d'identifier les fonctions électroniques embarquées puis d'établir la matrice d'interaction, ou matrice des gênes. De cette matrice vont découler des graphes établis pour l'analyse des risques CEM rattachés aux fonctions sous-jacentes. Les intersections entre fonctions mettant à jour des risques de perturbation dans la matrice sont étudiées une par une, en passant par la construction de schémas puis de graphes détaillés permettant, comme il a été expliqué dans l'article [E1302], de calculer ces interactions. Les risques sont ensuite levés par adjonctions éventuelles de protections ou simplement sans actions particulières s'il s'avère que les fonctions ne se perturbent pas.
Pour illustrer cette méthodologie, trois cas concrets sont présentés ainsi que trois façons d'étudier en détail et de résoudre ces cas :
la résolution de problèmes conduits sur une carte électronique ;
la gestion des perturbations entre antennes embarquées ;
les méthodologies attachées aux effets des rayonnements radiatifs naturels.
Ces trois cas sont des applications particulières des démarches exposées en introduction.
|
| REFERENCE : |
E 1 305 |
| DEWEY : |
621.381 |
| Date : |
Novembre 2011 |
| En ligne : |
http://www.techniques-ingenieur.fr/base-documentaire/electronique-photonique-th1 [...] |
in Techniques de l'ingénieur E > Vol. E4 (Trimestriel) . - 18 p.
[article] Notions de CEM des systèmes [texte imprimé] / Olivier Maurice, Auteur ; Hubert, Guillaume, Auteur ; Yalcin, Evlin, Auteur . - 2007 . - 18 p. Bibliogr. Langues : Français ( fre) in Techniques de l'ingénieur E > Vol. E4 (Trimestriel) . - 18 p.
| Mots-clés : |
Notions CEM |
| Résumé : |
Cet article aborde les problématiques de la CEM des systèmes. La notion de système est l'objet de travaux multiples et va au-delà de celle comprise en CEM. Cependant, on s'en inspire pour définir un système comme un regroupement d'électroniques reliées par des liaisons filaires ou antennaires et dévolu à la réalisation d'une fonction.
Aborder la CEM d'un système dans son ensemble est extrêmement compliqué, mais non impossible. Il faut introduire une part de probabilité pour pallier la méconnaissance ou les incertitudes. Plus modestement, les ingénieurs en CEM étudient tous les jours des systèmes plus ou moins complexes, et si aborder un système complet demande des ressources et des budgets rarement disponibles, morceler le système en parties de complexité réduite pour résoudre des problèmes particuliers attachés à des fonctions critiques est un travail régulièrement accompli.
Nous détaillons tout d'abord cette tâche essentielle, en commençant par le morcellement : l'analyse dite « topologique » du système et le découpage en couches de ses structures. Ce découpage permet d'identifier les fonctions électroniques embarquées puis d'établir la matrice d'interaction, ou matrice des gênes. De cette matrice vont découler des graphes établis pour l'analyse des risques CEM rattachés aux fonctions sous-jacentes. Les intersections entre fonctions mettant à jour des risques de perturbation dans la matrice sont étudiées une par une, en passant par la construction de schémas puis de graphes détaillés permettant, comme il a été expliqué dans l'article [E1302], de calculer ces interactions. Les risques sont ensuite levés par adjonctions éventuelles de protections ou simplement sans actions particulières s'il s'avère que les fonctions ne se perturbent pas.
Pour illustrer cette méthodologie, trois cas concrets sont présentés ainsi que trois façons d'étudier en détail et de résoudre ces cas :
la résolution de problèmes conduits sur une carte électronique ;
la gestion des perturbations entre antennes embarquées ;
les méthodologies attachées aux effets des rayonnements radiatifs naturels.
Ces trois cas sont des applications particulières des démarches exposées en introduction.
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| REFERENCE : |
E 1 305 |
| DEWEY : |
621.381 |
| Date : |
Novembre 2011 |
| En ligne : |
http://www.techniques-ingenieur.fr/base-documentaire/electronique-photonique-th1 [...] |
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