| Titre : | Emission ionique secondaire SIMS : principes et appareillages : réf. internet P 2618 |
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| Auteurs : | Darque-Cretti, Évelyne, Auteur ; Henri-Noel Migeon, Auteur ; Marc Aucouturier, Auteur |
| Type de document : | texte imprimé |
| Année de publication : | 1998 |
| Format : | p. 297-312 |
| Note générale : | Bibliogr. p. 312 |
| Langues : | Français |
| Tags : | Analyse ionique par émission secondaire (SIMS) Microanalyse |
| Note de contenu : |
Sommaire:
1. Principe de l'émission ionique secondaire 2. Principes de mesure et appareillages. Paramètres expérimentaux |
Exemplaires
| Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité |
|---|---|---|---|---|
| aucun exemplaire |
