Titre :	Emission ionique secondaire SIMS : principes et appareillages : réf. internet P 2618
Type de document :	texte imprimé
Auteurs :	Darque-Cretti, Évelyne, Auteur ; Henri-Noel Migeon, Auteur ; Marc Aucouturier, Auteur
Année de publication :	1998
Importance :	p. 297-312
Note générale :	Bibliogr. p. 312
Langues :	Français (fre)
Mots-clés :	Analyse ionique par émission secondaire (SIMS) Microanalyse
Note de contenu :	Sommaire: 1. Principe de l'émission ionique secondaire 2. Principes de mesure et appareillages. Paramètres expérimentaux

Emission ionique secondaire SIMS : principes et appareillages : réf. internet P 2618 [texte imprimé] / Darque-Cretti, Évelyne, Auteur ; Henri-Noel Migeon, Auteur ; Marc Aucouturier, Auteur . - 1998 . - p. 297-312.
Bibliogr. p. 312
Langues : Français (fre)

Mots-clés :	Analyse ionique par émission secondaire (SIMS) Microanalyse
Note de contenu :	Sommaire: 1. Principe de l'émission ionique secondaire 2. Principes de mesure et appareillages. Paramètres expérimentaux