| Titre : | La nanoélectronique au service de la métrologie de l'ampère : réf. internet R 1085 |
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| Auteurs : | Nicolas Feltin, Auteur ; Xavier Jehl, Auteur |
| Type de document : | texte imprimé |
| Année de publication : | 2011 |
| Format : | p. 237-257 / ill. |
| Note générale : | Bibliogr. p. 255-257 |
| Langues : | Français |
| Tags : | Nanoélectronique ; Métrologie ; Systèmes d'unités |
| Note de contenu : |
Sommaire:
1. Place des nanodispositifs électroniques dans le futur système international d'unités 2. Principes de base des nanodispositifs monoélectroniques 3. Performances métrologiques des dispositifs 4. Ponts de mesure 5. Le nanodispositif monoélectronique au coeur de la future réforme du SI 6. Conclusion et perspectives |
Exemplaires
| Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité |
|---|---|---|---|---|
| aucun exemplaire |
