| Titre : | Microscopie à force atomique (AFM) : réf. internet R1394 |
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| Auteurs : | Jean-Claude Rivoal, Auteur ; Christian Frétigny, Auteur |
| Type de document : | texte imprimé |
| Année de publication : | 2005 |
| Format : | p.163-182 |
| Note générale : | Bibliogr. p.181 |
| Langues : | Français |
| Tags : | Mesure électrique Microscopie |
| Note de contenu : |
Sommaire:
1. Instrumentation et modes de fonctionnement 2. Applications 3. Conclusion |
Exemplaires
| Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité |
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| aucun exemplaire |
