| Titre : | Méthodes de test d'une famille de micro-ordinateur |
| Auteurs : | Boutria, Mohamed, Auteur ; Soufi, Messaoud, Auteur ; Kaminska, B., Directeur de thèse |
| Type de document : | texte imprimé |
| Editeur : | [S.l.] : [s.n.], 1985 |
| Format : | 74 f. / ill. / 27 cm. |
| Note générale : |
Mémoire de Projet de Fin d’Études : Électronique : Alger, École Nationale Polytechnique : 1985
Bibliogr.: [1] f |
| Langues : | Français |
| Index. décimale : | PN01785 |
| Tags : | Circuits intégrés Test -- Mémoires Test Microprocesseurs |
| Résumé : |
Dans ce travail on expose les spécificités du problème de test des circuits intégrés (LSI et VLSI) entrants dans la constitution des micro-ordinateurs.
On donne par la suite quelques méthodes utilisées pour le test de ce type de circuit. |
Exemplaires (1)
| Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité | Spécialité | Etat_Exemplaire |
|---|---|---|---|---|---|---|
| PN01785 | Papier + ressource électronique | Bibliothèque centrale | Projet Fin d'Etudes | Disponible | Electronique | Consultation sur place/Téléchargeable |
Documents numériques (1)
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BOUTRIA.Mohamed_SOUFI.Messaoud.pdf URL
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