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Effet de la fréquence des champs électriques oscillants sur la tension de rupture par avalanche des diodes à semiconducteurs

Moufek, Abderrahmane, Auteur ; Mitra, M., Directeur de thèse | Oran : [s.n.] | 1984

Ces travaux ont inclus un modèle théorique pour expliquer les variations de la tension de rupture en fonction de la fréquence, modèle qui considère l'effet d'hystérésis diélectrique sur le libre parcours moyen de l'électron soumis à des champs é[...]

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