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Auteur Jacky Ruste
Documents disponibles écrits par cet auteur
Affiner la rechercheMicroanalyse X par sonde électronique / Jacky Ruste
in Techniques de l'ingénieur : techniques d'analyse Ti630. Techniques d'analyse par imagerie / Gwenola Burgot
Titre : Microanalyse X par sonde électronique : applications et développements : réf. internet P 886 Type de document : texte imprimé Auteurs : Jacky Ruste, Auteur Année de publication : 2009 Importance : p. 107-124 Note générale : Bibliogr. p. 123-124 Langues : Français (fre) Mots-clés : Microanalyse X
Sonde électrique
Cartographie X
Rayons XNote de contenu : Sommaire:
1. Préparation des échantillons et conditions opératoires
2. Analyse qualitative
3. Cartographie X
4. Analyse quantitative et calculs de correction
5. Analyse d'échantillons stratifiés
6. Microanalyse en mode "pression contrôlée" ou en chambre environnementale
7. Microanalyse en STEM
8. Applications, quelques exemples
9. Perspectives: l'analyse sub-micronique
in Techniques de l'ingénieur : techniques d'analyse Ti630. Techniques d'analyse par imagerie / Gwenola Burgot
Microanalyse X par sonde électronique : applications et développements : réf. internet P 886 [texte imprimé] / Jacky Ruste, Auteur . - 2009 . - p. 107-124.
Bibliogr. p. 123-124
Langues : Français (fre)
Mots-clés : Microanalyse X
Sonde électrique
Cartographie X
Rayons XNote de contenu : Sommaire:
1. Préparation des échantillons et conditions opératoires
2. Analyse qualitative
3. Cartographie X
4. Analyse quantitative et calculs de correction
5. Analyse d'échantillons stratifiés
6. Microanalyse en mode "pression contrôlée" ou en chambre environnementale
7. Microanalyse en STEM
8. Applications, quelques exemples
9. Perspectives: l'analyse sub-microniqueExemplaires
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité aucun exemplaire
in Techniques de l'ingénieur : techniques d'analyse Ti630. Techniques d'analyse par imagerie / Gwenola Burgot
Titre : Microanalyse X par sonde électronique : principe et instrumentation : réf. internet P 885 Type de document : texte imprimé Auteurs : Jacky Ruste, Auteur Année de publication : 2009 Importance : p. 87-106 Note générale : Bibliogr. p. 105-106 Langues : Français (fre) Mots-clés : Microanalyse X
Sonde électronique
Rayons XNote de contenu : Sommaire:
1. Aspects théoriques: interactions rayonnement- matière
2. Aspects technologiques
in Techniques de l'ingénieur : techniques d'analyse Ti630. Techniques d'analyse par imagerie / Gwenola Burgot
Microanalyse X par sonde électronique : principe et instrumentation : réf. internet P 885 [texte imprimé] / Jacky Ruste, Auteur . - 2009 . - p. 87-106.
Bibliogr. p. 105-106
Langues : Français (fre)
Mots-clés : Microanalyse X
Sonde électronique
Rayons XNote de contenu : Sommaire:
1. Aspects théoriques: interactions rayonnement- matière
2. Aspects technologiquesExemplaires
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité aucun exemplaire Microscopie électronique à balayage / Jacky Ruste in Techniques de l'ingénieur TA, Vol. TA1 (Trimestriel)
in Techniques de l'ingénieur TA > Vol. TA1 (Trimestriel) . - 21 p.
Titre : Microscopie électronique à balayage : images. applications et développements Type de document : texte imprimé Auteurs : Jacky Ruste, Auteur Année de publication : 2007 Article en page(s) : 21 p. Note générale : Bibliogr. Langues : Français (fre) Mots-clés : MEB; Électron; Topographie; Matériaux; Électronique; Microscopie électronique; Imagerie Résumé : Ce texte explique les différents contrastes observés en microscopie électronique à balayage ; il décrit les différents domaines d’application de cette technique et aborde les nouveaux développements qu’elle connait depuis ces dernières années. REFERENCE : P 866v2 Date : Mars 2013 En ligne : http://www.techniques-ingenieur.fr/base-documentaire/mesures-analyses-th1/techni [...] [article] Microscopie électronique à balayage : images. applications et développements [texte imprimé] / Jacky Ruste, Auteur . - 2007 . - 21 p.
Bibliogr.
Langues : Français (fre)
in Techniques de l'ingénieur TA > Vol. TA1 (Trimestriel) . - 21 p.
Mots-clés : MEB; Électron; Topographie; Matériaux; Électronique; Microscopie électronique; Imagerie Résumé : Ce texte explique les différents contrastes observés en microscopie électronique à balayage ; il décrit les différents domaines d’application de cette technique et aborde les nouveaux développements qu’elle connait depuis ces dernières années. REFERENCE : P 866v2 Date : Mars 2013 En ligne : http://www.techniques-ingenieur.fr/base-documentaire/mesures-analyses-th1/techni [...]
in Techniques de l'ingénieur : techniques d'analyse Ti630. Techniques d'analyse par imagerie / Gwenola Burgot
Titre : Microscopie électronique à balayage : images, applications et développements : réf. internet P 866 Type de document : texte imprimé Auteurs : Henri Paqueton, Auteur ; Jacky Ruste, Auteur Année de publication : 2013 Importance : p. 67-85 Note générale : Bibliogr. p. 83-84 Langues : Français (fre) Mots-clés : Electron
Topographie
Matériaux
Electronique
Microscopie électronique
ImagerieNote de contenu : Sommaire:
1. Images et contrastes
2. Résolution spatiale et profondeur de champ
3. Préparation d'échantillon
4. Nouveaux développements en microscopie électronique à balayage
5. Applications
6. Conclusions
7. Perspectives
in Techniques de l'ingénieur : techniques d'analyse Ti630. Techniques d'analyse par imagerie / Gwenola Burgot
Microscopie électronique à balayage : images, applications et développements : réf. internet P 866 [texte imprimé] / Henri Paqueton, Auteur ; Jacky Ruste, Auteur . - 2013 . - p. 67-85.
Bibliogr. p. 83-84
Langues : Français (fre)
Mots-clés : Electron
Topographie
Matériaux
Electronique
Microscopie électronique
ImagerieNote de contenu : Sommaire:
1. Images et contrastes
2. Résolution spatiale et profondeur de champ
3. Préparation d'échantillon
4. Nouveaux développements en microscopie électronique à balayage
5. Applications
6. Conclusions
7. PerspectivesExemplaires
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité aucun exemplaire
in Techniques de l'ingénieur : techniques d'analyse Ti630. Techniques d'analyse par imagerie / Gwenola Burgot
Titre : Microscopie électronique à balayage : principe et équipement : réf. internet P 865 Type de document : texte imprimé Auteurs : Jacky Ruste, Auteur Année de publication : 2013 Importance : p. 45-66 Note générale : Bibliogr. p. 65 Langues : Français (fre) Mots-clés : Matériaux
Electronique
Microscopie électronique
ImagerieNote de contenu : Sommaire:
1. Principe
2. Rappels sur les interactions électron-matière
3. Instrument
4. Conclusion
in Techniques de l'ingénieur : techniques d'analyse Ti630. Techniques d'analyse par imagerie / Gwenola Burgot
Microscopie électronique à balayage : principe et équipement : réf. internet P 865 [texte imprimé] / Jacky Ruste, Auteur . - 2013 . - p. 45-66.
Bibliogr. p. 65
Langues : Français (fre)
Mots-clés : Matériaux
Electronique
Microscopie électronique
ImagerieNote de contenu : Sommaire:
1. Principe
2. Rappels sur les interactions électron-matière
3. Instrument
4. ConclusionExemplaires
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité aucun exemplaire
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