Microanalyse X par sonde électronique / Jacky Ruste (2009)

Public ISBD in Techniques de l'ingénieur : techniques d'analyse Ti630. Techniques d'analyse par imagerie / Gwenola Burgot (2012)   Titre : Microanalyse X par sonde électronique : applications et développements : réf. internet P 886 Type de document : texte imprimé Auteurs : Jacky Ruste, Auteur Année de publication : 2009 Importance : p. 107-124 Note générale : Bibliogr. p. 123-124 Langues : Français (fre) Mots-clés : Microanalyse X Sonde électrique Cartographie X Rayons X Note de contenu : Sommaire: 1. Préparation des échantillons et conditions opératoires 2. Analyse qualitative 3. Cartographie X 4. Analyse quantitative et calculs de correction 5. Analyse d'échantillons stratifiés 6. Microanalyse en mode "pression contrôlée" ou en chambre environnementale 7. Microanalyse en STEM 8. Applications, quelques exemples 9. Perspectives: l'analyse sub-micronique in Techniques de l'ingénieur : techniques d'analyse Ti630. Techniques d'analyse par imagerie / Gwenola Burgot (2012)   Microanalyse X par sonde électronique : applications et développements : réf. internet P 886 [texte imprimé] / Jacky Ruste, Auteur . - 2009 . - p. 107-124. Bibliogr. p. 123-124 Langues : Français (fre) Mots-clés : Microanalyse X Sonde électrique Cartographie X Rayons X Note de contenu : Sommaire: 1. Préparation des échantillons et conditions opératoires 2. Analyse qualitative 3. Cartographie X 4. Analyse quantitative et calculs de correction 5. Analyse d'échantillons stratifiés 6. Microanalyse en mode "pression contrôlée" ou en chambre environnementale 7. Microanalyse en STEM 8. Applications, quelques exemples 9. Perspectives: l'analyse sub-micronique

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Microanalyse X par sonde électronique / Jacky Ruste (2009)

Public ISBD in Techniques de l'ingénieur : techniques d'analyse Ti630. Techniques d'analyse par imagerie / Gwenola Burgot (2012)   Titre : Microanalyse X par sonde électronique : principe et instrumentation : réf. internet P 885 Type de document : texte imprimé Auteurs : Jacky Ruste, Auteur Année de publication : 2009 Importance : p. 87-106 Note générale : Bibliogr. p. 105-106 Langues : Français (fre) Mots-clés : Microanalyse X Sonde électronique Rayons X Note de contenu : Sommaire: 1. Aspects théoriques: interactions rayonnement- matière 2. Aspects technologiques in Techniques de l'ingénieur : techniques d'analyse Ti630. Techniques d'analyse par imagerie / Gwenola Burgot (2012)   Microanalyse X par sonde électronique : principe et instrumentation : réf. internet P 885 [texte imprimé] / Jacky Ruste, Auteur . - 2009 . - p. 87-106. Bibliogr. p. 105-106 Langues : Français (fre) Mots-clés : Microanalyse X Sonde électronique Rayons X Note de contenu : Sommaire: 1. Aspects théoriques: interactions rayonnement- matière 2. Aspects technologiques

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Microscopie électronique à balayage / Jacky Ruste in Techniques de l'ingénieur TA, Vol. TA1 (Trimestriel)  

Public ISBD [article]  inTechniques de l'ingénieur TA > Vol. TA1 (Trimestriel) . - 21 p. Titre : Microscopie électronique à balayage : images. applications et développements Type de document : texte imprimé Auteurs : Jacky Ruste, Auteur Année de publication : 2007 Article en page(s) : 21 p. Note générale : Bibliogr. Langues : Français (fre) Mots-clés : MEB  Électron  Topographie  Matériaux  Électronique  Microscopie électronique  Imagerie Résumé : Ce texte explique les différents contrastes observés en microscopie électronique à balayage ; il décrit les différents domaines d’application de cette technique et aborde les nouveaux développements qu’elle connait depuis ces dernières années. REFERENCE : P 866v2 Date : Mars 2013 En ligne : http://www.techniques-ingenieur.fr/base-documentaire/mesures-analyses-th1/techni [...] [article] Microscopie électronique à balayage : images. applications et développements [texte imprimé] / Jacky Ruste, Auteur . - 2007 . - 21 p. Bibliogr. Langues : Français (fre) in Techniques de l'ingénieur TA > Vol. TA1 (Trimestriel) . - 21 p. Mots-clés : MEB  Électron  Topographie  Matériaux  Électronique  Microscopie électronique  Imagerie Résumé : Ce texte explique les différents contrastes observés en microscopie électronique à balayage ; il décrit les différents domaines d’application de cette technique et aborde les nouveaux développements qu’elle connait depuis ces dernières années. REFERENCE : P 866v2 Date : Mars 2013 En ligne : http://www.techniques-ingenieur.fr/base-documentaire/mesures-analyses-th1/techni [...]

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Microscopie électronique à balayage / Henri Paqueton (2013)

Public ISBD in Techniques de l'ingénieur : techniques d'analyse Ti630. Techniques d'analyse par imagerie / Gwenola Burgot (2012)   Titre : Microscopie électronique à balayage : images, applications et développements : réf. internet P 866 Type de document : texte imprimé Auteurs : Henri Paqueton, Auteur ; Jacky Ruste, Auteur Année de publication : 2013 Importance : p. 67-85 Note générale : Bibliogr. p. 83-84 Langues : Français (fre) Mots-clés : Electron Topographie Matériaux Electronique Microscopie électronique Imagerie Note de contenu : Sommaire: 1. Images et contrastes 2. Résolution spatiale et profondeur de champ 3. Préparation d'échantillon 4. Nouveaux développements en microscopie électronique à balayage 5. Applications 6. Conclusions 7. Perspectives in Techniques de l'ingénieur : techniques d'analyse Ti630. Techniques d'analyse par imagerie / Gwenola Burgot (2012)   Microscopie électronique à balayage : images, applications et développements : réf. internet P 866 [texte imprimé] / Henri Paqueton, Auteur ; Jacky Ruste, Auteur . - 2013 . - p. 67-85. Bibliogr. p. 83-84 Langues : Français (fre) Mots-clés : Electron Topographie Matériaux Electronique Microscopie électronique Imagerie Note de contenu : Sommaire: 1. Images et contrastes 2. Résolution spatiale et profondeur de champ 3. Préparation d'échantillon 4. Nouveaux développements en microscopie électronique à balayage 5. Applications 6. Conclusions 7. Perspectives

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Microscopie électronique à balayage / Jacky Ruste (2013)

Public ISBD in Techniques de l'ingénieur : techniques d'analyse Ti630. Techniques d'analyse par imagerie / Gwenola Burgot (2012)   Titre : Microscopie électronique à balayage : principe et équipement : réf. internet P 865 Type de document : texte imprimé Auteurs : Jacky Ruste, Auteur Année de publication : 2013 Importance : p. 45-66 Note générale : Bibliogr. p. 65 Langues : Français (fre) Mots-clés : Matériaux Electronique Microscopie électronique Imagerie Note de contenu : Sommaire: 1. Principe 2. Rappels sur les interactions électron-matière 3. Instrument 4. Conclusion in Techniques de l'ingénieur : techniques d'analyse Ti630. Techniques d'analyse par imagerie / Gwenola Burgot (2012)   Microscopie électronique à balayage : principe et équipement : réf. internet P 865 [texte imprimé] / Jacky Ruste, Auteur . - 2013 . - p. 45-66. Bibliogr. p. 65 Langues : Français (fre) Mots-clés : Matériaux Electronique Microscopie électronique Imagerie Note de contenu : Sommaire: 1. Principe 2. Rappels sur les interactions électron-matière 3. Instrument 4. Conclusion

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Microscopie électronique / Jacky Ruste in Techniques de l'ingénieur TA, Vol. TA1 (Trimestriel)  

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