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Auteur Régis Leveugle
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Affiner la rechercheTest des circuits intégrés numériques / Régis Leveugle in Techniques de l'ingénieur E, Vol. E4 (Trimestriel)
[article]
in Techniques de l'ingénieur E > Vol. E4 (Trimestriel) . - 15 p.
Titre : Test des circuits intégrés numériques : Conception orientée testabilité Type de document : texte imprimé Auteurs : Régis Leveugle, Auteur Année de publication : 2007 Article en page(s) : 15 p. Note générale : bibliogr. Langues : Français (fre) Mots-clés : Test des circuits intégrés; Outils cao; Techniques de dft; DFT; Conception d'un circuit Résumé : Lans la première partie intitulée « Test des circuits intégrés numériques – Notions de base. Génération de vecteurs » Test des circuits intégrés numériques- Notions de base. Génération de vecteursTest des circuits intégrés numériques- Notions de base. Génération de vecteurs, les principaux concepts du domaine ont été introduits. Cette deuxième partie présente plus en détail différentes techniques pouvant être mises en œuvre, pendant la conception d’un circuit, pour faciliter son test en fin de fabrication ou dans l’équipement. Quelques techniques de base employées pour réaliser un test pendant l’exécution de l’application sont également introduites. REFERENCE : E 2 461 Date : Aoüt 2002 En ligne : http://www.techniques-ingenieur.fr/base-documentaire/electronique-automatique-th [...] [article] Test des circuits intégrés numériques : Conception orientée testabilité [texte imprimé] / Régis Leveugle, Auteur . - 2007 . - 15 p.
bibliogr.
Langues : Français (fre)
in Techniques de l'ingénieur E > Vol. E4 (Trimestriel) . - 15 p.
Mots-clés : Test des circuits intégrés; Outils cao; Techniques de dft; DFT; Conception d'un circuit Résumé : Lans la première partie intitulée « Test des circuits intégrés numériques – Notions de base. Génération de vecteurs » Test des circuits intégrés numériques- Notions de base. Génération de vecteursTest des circuits intégrés numériques- Notions de base. Génération de vecteurs, les principaux concepts du domaine ont été introduits. Cette deuxième partie présente plus en détail différentes techniques pouvant être mises en œuvre, pendant la conception d’un circuit, pour faciliter son test en fin de fabrication ou dans l’équipement. Quelques techniques de base employées pour réaliser un test pendant l’exécution de l’application sont également introduites. REFERENCE : E 2 461 Date : Aoüt 2002 En ligne : http://www.techniques-ingenieur.fr/base-documentaire/electronique-automatique-th [...] Test des circuits intégrés numériques / Régis Leveugle
in Techniques de l'ingénieur : électronique Ti350. Architecture et tests des circuits numériques / Guillaume Bernard
Titre : Test des circuits intégrés numériques : conception orientée testabilité : réf. internet E 2461 Type de document : texte imprimé Auteurs : Régis Leveugle, Auteur Editeur : Paris : Techniques de l'ingénieur Année de publication : 2002 Importance : p. 411 - 427 Note générale : Bibliogr. p. 427 Langues : Français (fre) Mots-clés : Circuits intégrés numériques Note de contenu : Sommaire :
1. Techniques de conception pour augmenter la testabilité d’un circuit
2. Norme IEEE 1149.1 « boundary scan »
3. Vers le test des SOC
4. Techniques de conception pour augmenter la testabilité en ligne
5. Outils CAO
6. Exemples d’utilisation des techniques de DFT
7. Conclusion
in Techniques de l'ingénieur : électronique Ti350. Architecture et tests des circuits numériques / Guillaume Bernard
Test des circuits intégrés numériques : conception orientée testabilité : réf. internet E 2461 [texte imprimé] / Régis Leveugle, Auteur . - Paris : Techniques de l'ingénieur, 2002 . - p. 411 - 427.
Bibliogr. p. 427
Langues : Français (fre)
Mots-clés : Circuits intégrés numériques Note de contenu : Sommaire :
1. Techniques de conception pour augmenter la testabilité d’un circuit
2. Norme IEEE 1149.1 « boundary scan »
3. Vers le test des SOC
4. Techniques de conception pour augmenter la testabilité en ligne
5. Outils CAO
6. Exemples d’utilisation des techniques de DFT
7. ConclusionExemplaires
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité aucun exemplaire Test des circuits intégrés numériques / Régis Leveugle in Techniques de l'ingénieur E, Vol. E4 (Trimestriel)
[article]
in Techniques de l'ingénieur E > Vol. E4 (Trimestriel) . - 14 p.
Titre : Test des circuits intégrés numériques : Notions de base. Génération de vecteurs Type de document : texte imprimé Auteurs : Régis Leveugle, Auteur Année de publication : 2007 Article en page(s) : 14 p. Langues : Français (fre) Mots-clés : Circuits intégrés; DFT; Design for Testability; CMOS Résumé : Le test des circuits intégrés n’est pas un domaine nouveau, mais il est en perpétuelle mutation. Lors des premiers pas dans la production de circuits intégrés, l’ingénieur de conception et l’ingénieur chargé du test étaient généralement bien dissociés. Le premier décidait des éléments à implanter dans le circuit et du dessin de ces éléments sur le substrat physique ; le second décidait ensuite comment déterminer efficacement, en fin de production, si le circuit n’était pas entaché d’un défaut de fabrication et pouvait être livré au client. Le premier devait donc garantir une fonctionnalité exempte d’erreur de conception ; le second devait assurer la détection de tout défaut physique. Avec la croissance rapide de la complexité des circuits, cette séparation nette des responsabilités est devenue caduque. L’évolution vers la haute intégration (VLSI : Very Large Scale Integration) a eu pour conséquence l’impossibilité de tester efficacement le circuit en production si le test n’a pas été prévu pendant la conception ; la qualité et le coût du test sont devenus directement liés aux choix de conception et aux informations fournies par le concepteur pour la préparation du test. REFERENCE : E 2 460 Date : Aoüt 2002 En ligne : http://www.techniques-ingenieur.fr/base-documentaire/electronique-automatique-th [...] [article] Test des circuits intégrés numériques : Notions de base. Génération de vecteurs [texte imprimé] / Régis Leveugle, Auteur . - 2007 . - 14 p.
Langues : Français (fre)
in Techniques de l'ingénieur E > Vol. E4 (Trimestriel) . - 14 p.
Mots-clés : Circuits intégrés; DFT; Design for Testability; CMOS Résumé : Le test des circuits intégrés n’est pas un domaine nouveau, mais il est en perpétuelle mutation. Lors des premiers pas dans la production de circuits intégrés, l’ingénieur de conception et l’ingénieur chargé du test étaient généralement bien dissociés. Le premier décidait des éléments à implanter dans le circuit et du dessin de ces éléments sur le substrat physique ; le second décidait ensuite comment déterminer efficacement, en fin de production, si le circuit n’était pas entaché d’un défaut de fabrication et pouvait être livré au client. Le premier devait donc garantir une fonctionnalité exempte d’erreur de conception ; le second devait assurer la détection de tout défaut physique. Avec la croissance rapide de la complexité des circuits, cette séparation nette des responsabilités est devenue caduque. L’évolution vers la haute intégration (VLSI : Very Large Scale Integration) a eu pour conséquence l’impossibilité de tester efficacement le circuit en production si le test n’a pas été prévu pendant la conception ; la qualité et le coût du test sont devenus directement liés aux choix de conception et aux informations fournies par le concepteur pour la préparation du test. REFERENCE : E 2 460 Date : Aoüt 2002 En ligne : http://www.techniques-ingenieur.fr/base-documentaire/electronique-automatique-th [...] Test des circuits intégrés numériques / Régis Leveugle
in Techniques de l'ingénieur : électronique Ti350. Architecture et tests des circuits numériques / Guillaume Bernard
Titre : Test des circuits intégrés numériques : notions de base. Génération de vecteurs : réf. internet E 2460 Type de document : texte imprimé Auteurs : Régis Leveugle, Auteur Editeur : Paris : Techniques de l'ingénieur Année de publication : 2002 Importance : p. 397 - 410 Langues : Français (fre) Mots-clés : Circuits intégrés numériques Note de contenu : Sommaire :
1. Généralités sur le test
2. Vecteurs de test, modèles de fautes et taux de couverture
3. Notion de testabilité. Augmentation de testabilité
4. De la validation fonctionnelle au programme de test
5. Conclusion
in Techniques de l'ingénieur : électronique Ti350. Architecture et tests des circuits numériques / Guillaume Bernard
Test des circuits intégrés numériques : notions de base. Génération de vecteurs : réf. internet E 2460 [texte imprimé] / Régis Leveugle, Auteur . - Paris : Techniques de l'ingénieur, 2002 . - p. 397 - 410.
Langues : Français (fre)
Mots-clés : Circuits intégrés numériques Note de contenu : Sommaire :
1. Généralités sur le test
2. Vecteurs de test, modèles de fautes et taux de couverture
3. Notion de testabilité. Augmentation de testabilité
4. De la validation fonctionnelle au programme de test
5. ConclusionExemplaires
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité aucun exemplaire