[article]
| Titre : |
La compatibilité électromagnétique dans les circuits intégrés |
| Type de document : |
texte imprimé |
| Auteurs : |
Mohamed Ramdani, Auteur ; Etienne Sicard, Auteur ; Sonia Bendhia, Auteur |
| Année de publication : |
2007 |
| Article en page(s) : |
22 p. |
| Langues : |
Français (fre) |
| Mots-clés : |
Électromagnétique Circuits intégrés Méyhodes de mesure cem CEM ICEM Susceptibilité des circuits intégrés |
| Résumé : |
La directive européenne définit la compatibilité électromagnétique (CEM) comme étant :
« L’aptitude d’un dispositif, d’un appareil ou d’un système à fonctionner dans son environnement électromagnétique de façon satisfaisante et sans produire lui-même des perturbations électromagnétiques intolérables pour tout ce qui se trouve dans cet environnement ».
Depuis une dizaine d’années, les circuits intégrés et plus particulièrement le composant rejoignent les appareils et les systèmes dans le domaine de la CEM.
En effet, l’apparition des nouvelles matrices de portes logiques à haute densité (plusieurs centaines de milliers de portes à plusieurs millions de portes), les nouvelles technologies (0,25 µm, 0,18 µm, 0,12 µm et bientôt moins de 90 nm) et les méthodes de conception haut niveau de type SOC (System On Chip), autorisent une forte intégration de fonctions complexes et rapides tels que processeurs de signaux numériques spécialisés, chaînes de traitement de signal, séquenceurs complexes d’algorithme de télécommunications, etc. Cela ne reste pas sans conséquences : la commutation simultanée de milliers de bascules, des variations rapides de courant sur les différents rails d’alimentation, des variations de potentiel sur les alimentations internes et externes qui peuvent être de l’ordre de grandeur des seuils logiques des portes. On entre de plain-pied dans le domaine de la compatibilité électromagnétique des circuits intégrés. |
| REFERENCE : |
E 2 475 |
| Date : |
Aoüt 2004 |
| En ligne : |
http://www.techniques-ingenieur.fr/base-documentaire/electronique-automatique-th [...] |
in Techniques de l'ingénieur E > Vol. E4 (Trimestriel) . - 22 p.
[article] La compatibilité électromagnétique dans les circuits intégrés [texte imprimé] / Mohamed Ramdani, Auteur ; Etienne Sicard, Auteur ; Sonia Bendhia, Auteur . - 2007 . - 22 p. Langues : Français ( fre) in Techniques de l'ingénieur E > Vol. E4 (Trimestriel) . - 22 p.
| Mots-clés : |
Électromagnétique Circuits intégrés Méyhodes de mesure cem CEM ICEM Susceptibilité des circuits intégrés |
| Résumé : |
La directive européenne définit la compatibilité électromagnétique (CEM) comme étant :
« L’aptitude d’un dispositif, d’un appareil ou d’un système à fonctionner dans son environnement électromagnétique de façon satisfaisante et sans produire lui-même des perturbations électromagnétiques intolérables pour tout ce qui se trouve dans cet environnement ».
Depuis une dizaine d’années, les circuits intégrés et plus particulièrement le composant rejoignent les appareils et les systèmes dans le domaine de la CEM.
En effet, l’apparition des nouvelles matrices de portes logiques à haute densité (plusieurs centaines de milliers de portes à plusieurs millions de portes), les nouvelles technologies (0,25 µm, 0,18 µm, 0,12 µm et bientôt moins de 90 nm) et les méthodes de conception haut niveau de type SOC (System On Chip), autorisent une forte intégration de fonctions complexes et rapides tels que processeurs de signaux numériques spécialisés, chaînes de traitement de signal, séquenceurs complexes d’algorithme de télécommunications, etc. Cela ne reste pas sans conséquences : la commutation simultanée de milliers de bascules, des variations rapides de courant sur les différents rails d’alimentation, des variations de potentiel sur les alimentations internes et externes qui peuvent être de l’ordre de grandeur des seuils logiques des portes. On entre de plain-pied dans le domaine de la compatibilité électromagnétique des circuits intégrés. |
| REFERENCE : |
E 2 475 |
| Date : |
Aoüt 2004 |
| En ligne : |
http://www.techniques-ingenieur.fr/base-documentaire/electronique-automatique-th [...] |
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