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La compatibilité électromagnétique dans les circuits intégrés / Mohamed Ramdani in Techniques de l'ingénieur E, Vol. E4 (Trimestriel) 

Public ISBD [article]  in Techniques de l'ingénieur E > Vol. E4 (Trimestriel) . - 22 p. Titre : La compatibilité électromagnétique dans les circuits intégrés Type de document : texte imprimé Auteurs : Mohamed Ramdani, Auteur ; Etienne Sicard, Auteur ; Sonia Bendhia, Auteur Année de publication : 2007 Article en page(s) : 22 p. Langues : Français (fre) Mots-clés : Électromagnétique;  Circuits  intégrés;  Méyhodes  de  mesure  cem;  CEM;  ICEM;  Susceptibilité  des  circuits  intégrés Résumé : La directive européenne définit la compatibilité électromagnétique (CEM) comme étant : « L’aptitude d’un dispositif, d’un appareil ou d’un système à fonctionner dans son environnement électromagnétique de façon satisfaisante et sans produire lui-même des perturbations électromagnétiques intolérables pour tout ce qui se trouve dans cet environnement ». Depuis une dizaine d’années, les circuits intégrés et plus particulièrement le composant rejoignent les appareils et les systèmes dans le domaine de la CEM. En effet, l’apparition des nouvelles matrices de portes logiques à haute densité (plusieurs centaines de milliers de portes à plusieurs millions de portes), les nouvelles technologies (0,25 µm, 0,18 µm, 0,12 µm et bientôt moins de 90 nm) et les méthodes de conception haut niveau de type SOC (System On Chip), autorisent une forte intégration de fonctions complexes et rapides tels que processeurs de signaux numériques spécialisés, chaînes de traitement de signal, séquenceurs complexes d’algorithme de télécommunications, etc. Cela ne reste pas sans conséquences : la commutation simultanée de milliers de bascules, des variations rapides de courant sur les différents rails d’alimentation, des variations de potentiel sur les alimentations internes et externes qui peuvent être de l’ordre de grandeur des seuils logiques des portes. On entre de plain-pied dans le domaine de la compatibilité électromagnétique des circuits intégrés. REFERENCE : E 2 475 Date : Aoüt 2004 En ligne : http://www.techniques-ingenieur.fr/base-documentaire/electronique-automatique-th [...] [article] La compatibilité électromagnétique dans les circuits intégrés [texte imprimé] / Mohamed Ramdani, Auteur ; Etienne Sicard, Auteur ; Sonia Bendhia, Auteur . - 2007 . - 22 p. Langues : Français (fre) in Techniques de l'ingénieur E > Vol. E4 (Trimestriel) . - 22 p. Mots-clés : Électromagnétique;  Circuits  intégrés;  Méyhodes  de  mesure  cem;  CEM;  ICEM;  Susceptibilité  des  circuits  intégrés Résumé : La directive européenne définit la compatibilité électromagnétique (CEM) comme étant : « L’aptitude d’un dispositif, d’un appareil ou d’un système à fonctionner dans son environnement électromagnétique de façon satisfaisante et sans produire lui-même des perturbations électromagnétiques intolérables pour tout ce qui se trouve dans cet environnement ». Depuis une dizaine d’années, les circuits intégrés et plus particulièrement le composant rejoignent les appareils et les systèmes dans le domaine de la CEM. En effet, l’apparition des nouvelles matrices de portes logiques à haute densité (plusieurs centaines de milliers de portes à plusieurs millions de portes), les nouvelles technologies (0,25 µm, 0,18 µm, 0,12 µm et bientôt moins de 90 nm) et les méthodes de conception haut niveau de type SOC (System On Chip), autorisent une forte intégration de fonctions complexes et rapides tels que processeurs de signaux numériques spécialisés, chaînes de traitement de signal, séquenceurs complexes d’algorithme de télécommunications, etc. Cela ne reste pas sans conséquences : la commutation simultanée de milliers de bascules, des variations rapides de courant sur les différents rails d’alimentation, des variations de potentiel sur les alimentations internes et externes qui peuvent être de l’ordre de grandeur des seuils logiques des portes. On entre de plain-pied dans le domaine de la compatibilité électromagnétique des circuits intégrés. REFERENCE : E 2 475 Date : Aoüt 2004 En ligne : http://www.techniques-ingenieur.fr/base-documentaire/electronique-automatique-th [...]

La compatibilité électromagnétique dans les circuits intégrés / Mohamed Ramdani

Public ISBD in Techniques de l'ingénieur : électronique Ti350. Compatibilité électromagnétique dans les systèmes électroniques / Guillaume Bernard  Titre : La compatibilité électromagnétique dans les circuits intégrés : réf. internet E 2475 Type de document : texte imprimé Auteurs : Mohamed Ramdani, Auteur ; Etienne Sicard, Auteur ; Sonia Bendhia, Auteur ; Sébastien Calvet, Auteur Année de publication : 2004 Importance : p. 259-281 Note générale : Bibliogr. : p.281 Langues : Français (fre) Mots-clés : Électromagnétique  --  compatibilité Note de contenu : Sommaire : 1. Généralités 2. Modélisation de l’émission parasite 3. Etat d’avancement des travaux des comités normatifs 4. Origines des émissions parasites des circuits intégrés 5. Méthodes de mesure cem des circuits intégrés 6. Vers un modèle des circuits intégrés : icem 7. Susceptibilité des circuits intégrés 8. Conclusion in Techniques de l'ingénieur : électronique Ti350. Compatibilité électromagnétique dans les systèmes électroniques / Guillaume Bernard  La compatibilité électromagnétique dans les circuits intégrés : réf. internet E 2475 [texte imprimé] / Mohamed Ramdani, Auteur ; Etienne Sicard, Auteur ; Sonia Bendhia, Auteur ; Sébastien Calvet, Auteur . - 2004 . - p. 259-281. Bibliogr. : p.281 Langues : Français (fre) Mots-clés : Électromagnétique  --  compatibilité Note de contenu : Sommaire : 1. Généralités 2. Modélisation de l’émission parasite 3. Etat d’avancement des travaux des comités normatifs 4. Origines des émissions parasites des circuits intégrés 5. Méthodes de mesure cem des circuits intégrés 6. Vers un modèle des circuits intégrés : icem 7. Susceptibilité des circuits intégrés 8. Conclusion

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