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Le microscope à force atomique métrologique / Sébastien DUCOURTIEUX in Techniques de l'Ingéniuer RD. Mesures et controle, Vol. RD1 (Trimestriel)

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[article]
in Techniques de l'Ingéniuer RD. Mesures et controle > Vol. RD1 (Trimestriel) . - pp. 1-22
Titre : Le microscope à force atomique métrologique
Type de document : texte imprimé
Auteurs : Sébastien DUCOURTIEUX, Auteur ; Benoît POYET, Auteur
Année de publication : 2007
Article en page(s) : pp. 1-22
Note générale : Nanotechnologies
Langues : Français (fre)
Mots-clés : microscopie à force atomique, nanométrologie dimensionnelle, état de l’art, traçabilité, SI, étalon.
Résumé : Cet article décrit le contexte du développement et la mise en œuvre d’un microscope à force atomique métrologique. C’est un instrument de référence, traçable au Système international d’unités et dédié à la pratique de la nanométrologie dimensionnelle. Sa conception spécifique permet de maîtriser l’incertitude de mesure. Il est principalement utilisé pour l’étalonnage des étalons couramment employés dans le domaine de la microscopie en champ proche ou de la microscopie électronique.
Note de contenu : Bibliogr.
REFERENCE : NM 7050
Date : Août 2013
En ligne : http://www.techniques-ingenieur.fr/base-documentaire/innovations-th10/nanoscienc [...]

[article] Le microscope à force atomique métrologique [texte imprimé] / Sébastien DUCOURTIEUX, Auteur ; Benoît POYET, Auteur . - 2007 . - pp. 1-22.
Nanotechnologies
Langues : Français (fre)
in Techniques de l'Ingéniuer RD. Mesures et controle > Vol. RD1 (Trimestriel) . - pp. 1-22
Mots-clés : microscopie à force atomique, nanométrologie dimensionnelle, état de l’art, traçabilité, SI, étalon.
Résumé : Cet article décrit le contexte du développement et la mise en œuvre d’un microscope à force atomique métrologique. C’est un instrument de référence, traçable au Système international d’unités et dédié à la pratique de la nanométrologie dimensionnelle. Sa conception spécifique permet de maîtriser l’incertitude de mesure. Il est principalement utilisé pour l’étalonnage des étalons couramment employés dans le domaine de la microscopie en champ proche ou de la microscopie électronique.
Note de contenu : Bibliogr.
REFERENCE : NM 7050
Date : Août 2013
En ligne : http://www.techniques-ingenieur.fr/base-documentaire/innovations-th10/nanoscienc [...]