Le microscope à force atomique métrologique / Sébastien DUCOURTIEUX in Techniques de l'Ingéniuer RD. Mesures et controle, Vol. RD1 (Trimestriel)  

Public ISBD [article]  inTechniques de l'Ingéniuer RD. Mesures et controle > Vol. RD1 (Trimestriel) . - pp. 1-22 Titre : Le microscope à force atomique métrologique Type de document : texte imprimé Auteurs : Sébastien DUCOURTIEUX, Auteur ; Benoît POYET, Auteur Année de publication : 2007 Article en page(s) : pp. 1-22 Note générale : Nanotechnologies Langues : Français (fre) Mots-clés : microscopie à force atomique, nanométrologie dimensionnelle, état de l’art, traçabilité, SI, étalon. Résumé : Cet article décrit le contexte du développement et la mise en œuvre d’un microscope à force atomique métrologique. C’est un instrument de référence, traçable au Système international d’unités et dédié à la pratique de la nanométrologie dimensionnelle. Sa conception spécifique permet de maîtriser l’incertitude de mesure. Il est principalement utilisé pour l’étalonnage des étalons couramment employés dans le domaine de la microscopie en champ proche ou de la microscopie électronique. Note de contenu : Bibliogr. REFERENCE : NM 7050 Date : Août 2013 En ligne : http://www.techniques-ingenieur.fr/base-documentaire/innovations-th10/nanoscienc [...] [article] Le microscope à force atomique métrologique [texte imprimé] / Sébastien DUCOURTIEUX, Auteur ; Benoît POYET, Auteur . - 2007 . - pp. 1-22. Nanotechnologies Langues : Français (fre) in Techniques de l'Ingéniuer RD. Mesures et controle > Vol. RD1 (Trimestriel) . - pp. 1-22 Mots-clés : microscopie à force atomique, nanométrologie dimensionnelle, état de l’art, traçabilité, SI, étalon. Résumé : Cet article décrit le contexte du développement et la mise en œuvre d’un microscope à force atomique métrologique. C’est un instrument de référence, traçable au Système international d’unités et dédié à la pratique de la nanométrologie dimensionnelle. Sa conception spécifique permet de maîtriser l’incertitude de mesure. Il est principalement utilisé pour l’étalonnage des étalons couramment employés dans le domaine de la microscopie en champ proche ou de la microscopie électronique. Note de contenu : Bibliogr. REFERENCE : NM 7050 Date : Août 2013 En ligne : http://www.techniques-ingenieur.fr/base-documentaire/innovations-th10/nanoscienc [...]

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