Auteur Sébastien DUCOURTIEUX
Documents disponibles écrits par cet auteur (1)
Affiner la recherche
Article : texte imprimé
Sébastien DUCOURTIEUX, Auteur ; Benoît POYET, Auteur |Cet article décrit le contexte du développement et la mise en œuvre d’un microscope à force atomique métrologique. C’est un instrument de référence, traçable au Système international d’unités et dédié à la pratique de la nanométrologie dimension[...]
