La fibre optique microstructurée air-silice / Jean-Louis Auguste (2005)

Public ISBD in Techniques de l'ingénieur : mesures mécanique et dimensionnelles Ti673. Métrologie optique et photonique / Marc Priel (2013)   Titre : La fibre optique microstructurée air-silice : réf.intrnet RE43 Type de document : texte imprimé Auteurs : Jean-Louis Auguste, Auteur ; Jean-Marc Blondy, Auteur ; Benoît POYET, Auteur Editeur : Paris : Techniques de l'ingénieur Année de publication : 2005 Importance : p.505-520 Langues : Français (fre) Mots-clés : Fibres optiques -- microstructurées Faisceaux laser Note de contenu : sommaire: 1. Présentation 2. Quelques aspects théoriques des fibres optiques 3. Applications 4. Fabrication Conclusion et perspectives in Techniques de l'ingénieur : mesures mécanique et dimensionnelles Ti673. Métrologie optique et photonique / Marc Priel (2013)   La fibre optique microstructurée air-silice : réf.intrnet RE43 [texte imprimé] / Jean-Louis Auguste, Auteur ; Jean-Marc Blondy, Auteur ; Benoît POYET, Auteur . - Paris : Techniques de l'ingénieur, 2005 . - p.505-520. Langues : Français (fre) Mots-clés : Fibres optiques -- microstructurées Faisceaux laser Note de contenu : sommaire: 1. Présentation 2. Quelques aspects théoriques des fibres optiques 3. Applications 4. Fabrication Conclusion et perspectives

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Le microscope à force atomique métrologique / Sébastien DUCOURTIEUX in Techniques de l'Ingéniuer RD. Mesures et controle, Vol. RD1 (Trimestriel)  

Public ISBD [article]  inTechniques de l'Ingéniuer RD. Mesures et controle > Vol. RD1 (Trimestriel) . - pp. 1-22 Titre : Le microscope à force atomique métrologique Type de document : texte imprimé Auteurs : Sébastien DUCOURTIEUX, Auteur ; Benoît POYET, Auteur Année de publication : 2007 Article en page(s) : pp. 1-22 Note générale : Nanotechnologies Langues : Français (fre) Mots-clés : microscopie à force atomique, nanométrologie dimensionnelle, état de l’art, traçabilité, SI, étalon. Résumé : Cet article décrit le contexte du développement et la mise en œuvre d’un microscope à force atomique métrologique. C’est un instrument de référence, traçable au Système international d’unités et dédié à la pratique de la nanométrologie dimensionnelle. Sa conception spécifique permet de maîtriser l’incertitude de mesure. Il est principalement utilisé pour l’étalonnage des étalons couramment employés dans le domaine de la microscopie en champ proche ou de la microscopie électronique. Note de contenu : Bibliogr. REFERENCE : NM 7050 Date : Août 2013 En ligne : http://www.techniques-ingenieur.fr/base-documentaire/innovations-th10/nanoscienc [...] [article] Le microscope à force atomique métrologique [texte imprimé] / Sébastien DUCOURTIEUX, Auteur ; Benoît POYET, Auteur . - 2007 . - pp. 1-22. Nanotechnologies Langues : Français (fre) in Techniques de l'Ingéniuer RD. Mesures et controle > Vol. RD1 (Trimestriel) . - pp. 1-22 Mots-clés : microscopie à force atomique, nanométrologie dimensionnelle, état de l’art, traçabilité, SI, étalon. Résumé : Cet article décrit le contexte du développement et la mise en œuvre d’un microscope à force atomique métrologique. C’est un instrument de référence, traçable au Système international d’unités et dédié à la pratique de la nanométrologie dimensionnelle. Sa conception spécifique permet de maîtriser l’incertitude de mesure. Il est principalement utilisé pour l’étalonnage des étalons couramment employés dans le domaine de la microscopie en champ proche ou de la microscopie électronique. Note de contenu : Bibliogr. REFERENCE : NM 7050 Date : Août 2013 En ligne : http://www.techniques-ingenieur.fr/base-documentaire/innovations-th10/nanoscienc [...]

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Le microscope à force atomique métrologique / Sébastien Ducourtieu (2013)

Public ISBD in Techniques de l'ingénieur : mesures mécanique et dimensionnelles Ti673. Métrologie optique et photonique / Marc Priel (2013)   Titre : Le microscope à force atomique métrologique : réf.internet NM7050 Type de document : texte imprimé Auteurs : Sébastien Ducourtieu, Auteur ; Benoît POYET, Auteur Editeur : Paris : Techniques de l'ingénieur Année de publication : 2013 Importance : p.481-504 Note générale : bibliogr.503-504 Langues : Français (fre) Mots-clés : Microscope--Métrologique Note de contenu : Sommaire: 1. nIntroduction 2. Un contexte favorable au développement de la nanométrologie 3. Préambule : la nanométrologie dimensionnelle 4. Microscope à force atomique métrologique 5. Afm métrologique du lne 6. Performances 7. Conclusion et perspectives in Techniques de l'ingénieur : mesures mécanique et dimensionnelles Ti673. Métrologie optique et photonique / Marc Priel (2013)   Le microscope à force atomique métrologique : réf.internet NM7050 [texte imprimé] / Sébastien Ducourtieu, Auteur ; Benoît POYET, Auteur . - Paris : Techniques de l'ingénieur, 2013 . - p.481-504. bibliogr.503-504 Langues : Français (fre) Mots-clés : Microscope--Métrologique Note de contenu : Sommaire: 1. nIntroduction 2. Un contexte favorable au développement de la nanométrologie 3. Préambule : la nanométrologie dimensionnelle 4. Microscope à force atomique métrologique 5. Afm métrologique du lne 6. Performances 7. Conclusion et perspectives

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