Auteur Didier Blavette
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Article : texte imprimé
Didier Blavette, Auteur ; François Vurpillot, Auteur ; Bernard Deconihout, Auteur |La sonde atomique tomographique SAT répond aux besoins croissants d’analyse et d’imagerie en nanotechnologie. Elle permet d’imager un bout d’échantillon atome par atome dans les trois dimensions de l’espace avec une résolution subnanométrique. E[...]![]()
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Bernard Deconihout, Auteur ; François Vurpillot, Auteur ; Alain Menand, Auteur ; Didier Blavette, Auteur | 2008


