Auteur G. Champier
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Michot, Gérard, Auteur ; G. Champier, Directeur de thèse | Institut National Polytechnique de Lorraine | 1982Le but de ce travail est d'étudier en détail la configuration de dislocations développées à partir de l'extrémité d'une fissure dans une éprouvette monocristalline de silicium soumise à une charge constante et leur influence sur la ténacité du m[...]
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Dans le présent travail, nous nous sommes attachés à déterminer l'origine et le mode d'action des contraintes qui produisent les bandes de lignes de dislocations que l'on observe par topographie aux rayons X dans les tranches de silicium (001) a[...]
