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Auteur Henri-Noel Migeon

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Emission ionique secondaire SIMS / Darque-Cretti, Évelyne (1998)

Public

ISBD

in Techniques de l'ingénieur : techniques d'analyse Ti630. Analyses de surface et de matériaux / Gwenola Burgot (2012)

Titre : Emission ionique secondaire SIMS : principes et appareillages : réf. internet P 2618
Type de document : texte imprimé
Auteurs : Darque-Cretti, Évelyne, Auteur ; Henri-Noel Migeon, Auteur ; Marc Aucouturier, Auteur
Année de publication : 1998
Importance : p. 297-312
Note générale : Bibliogr. p. 312
Langues : Français (fre)
Mots-clés : Analyse ionique par émission secondaire (SIMS)
Microanalyse
Note de contenu : Sommaire:
1. Principe de l'émission ionique secondaire
2. Principes de mesure et appareillages. Paramètres expérimentaux

in Techniques de l'ingénieur : techniques d'analyse Ti630. Analyses de surface et de matériaux / Gwenola Burgot (2012)

Emission ionique secondaire SIMS : principes et appareillages : réf. internet P 2618 [texte imprimé] / Darque-Cretti, Évelyne, Auteur ; Henri-Noel Migeon, Auteur ; Marc Aucouturier, Auteur . - 1998 . - p. 297-312.
Bibliogr. p. 312
Langues : Français (fre)
Mots-clés : Analyse ionique par émission secondaire (SIMS)
Microanalyse
Note de contenu : Sommaire:
1. Principe de l'émission ionique secondaire
2. Principes de mesure et appareillages. Paramètres expérimentaux

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