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Auteur Christian Frétigny

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Microscopie à force atomique (AFM) / Jean-Claude Rivoal (2005)

Public

ISBD

in Techniques de l'ingénieur : tribologie Ti574. Surfaces / Eric Felder (2012)

Titre : Microscopie à force atomique (AFM) : réf. internet R 1394
Type de document : texte imprimé
Auteurs : Jean-Claude Rivoal, Auteur ; Christian Frétigny, Auteur
Année de publication : 2005
Importance : p. 135-154
Note générale : Bibliogr. p. 153-154
Langues : Français (fre)
Mots-clés : Microscopes
Microscopie à forme atomique
Nanotechnologie
Note de contenu : Sommaire:
1. Instrumentation et modes de fonctionnement
2. Applications
3. Conclusion

in Techniques de l'ingénieur : tribologie Ti574. Surfaces / Eric Felder (2012)

Microscopie à force atomique (AFM) : réf. internet R 1394 [texte imprimé] / Jean-Claude Rivoal, Auteur ; Christian Frétigny, Auteur . - 2005 . - p. 135-154.
Bibliogr. p. 153-154
Langues : Français (fre)
Mots-clés : Microscopes
Microscopie à forme atomique
Nanotechnologie
Note de contenu : Sommaire:
1. Instrumentation et modes de fonctionnement
2. Applications
3. Conclusion

Exemplaires

Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité
aucun exemplaire

Microscopie à force atomique (AFM) / Jean-Claude Rivoal (2005)

Public

ISBD

in Techniques de l'ingénieur : mesures mécanique et dimensionnelles Ti673. Mesures tridimensionnelles et états de surface / Saida Guellati (2012)

Titre : Microscopie à force atomique (AFM) : réf. internet R1394
Type de document : texte imprimé
Auteurs : Jean-Claude Rivoal, Auteur ; Christian Frétigny, Auteur
Année de publication : 2005
Importance : p.163-182
Note générale : Bibliogr. p.181
Langues : Français (fre)
Mots-clés : Mesure électrique
Microscopie
Note de contenu : Sommaire:
1. Instrumentation et modes de fonctionnement
2. Applications
3. Conclusion

in Techniques de l'ingénieur : mesures mécanique et dimensionnelles Ti673. Mesures tridimensionnelles et états de surface / Saida Guellati (2012)

Microscopie à force atomique (AFM) : réf. internet R1394 [texte imprimé] / Jean-Claude Rivoal, Auteur ; Christian Frétigny, Auteur . - 2005 . - p.163-182.
Bibliogr. p.181
Langues : Français (fre)
Mots-clés : Mesure électrique
Microscopie
Note de contenu : Sommaire:
1. Instrumentation et modes de fonctionnement
2. Applications
3. Conclusion

Exemplaires

Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité
aucun exemplaire