| Vol. RD1 - Mesures Mécaniques et Dimensionnelles Trimestriel |
Vol. RD2 - Mesures Mécaniques et Dimensionnelles Trimestriel |
Vol. RD3 - Mesures Mécaniques et Dimensionnelles Trimestriel |
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Techniques de l'Ingéniuer RD. Mesures et controle : Mesures mécaniques et dimensionnelles, Vol. RD1. Mesures Mécaniques et Dimensionnelles - Trimestriel
| Titre : | Techniques de l'Ingéniuer RD. Mesures et controle : Mesures mécaniques et dimensionnelles, Vol. RD1. Mesures Mécaniques et Dimensionnelles - Trimestriel |
| Type de document : | Bulletin |
| Paru le : | 24/04/2007 |
Dépouillements
Article : texte imprimé
Vailleu, Georges-Pierre, Auteur
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La traçabilité métrologique des mesures de longueurs est basée sur l'utilisation de sources laser particulières dont on connaît la longueur d'onde. Il est alors possible de démontrer le rattachement des mesures à l'unité de longueur en respectan[...]
Article : texte imprimé
Lyoussi, Abdallah, Auteur
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Le développement des techniques de mesure non destructive pour les besoins de contrôle, de caractérisation et d’analyse de matières radioactives a commencé avec la naissance de la science et des technologies nucléaires. En effet, la propriété qu[...]
Article : texte imprimé
Lyoussi, Abdallah, Auteur
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Cet article qui traite des méthodes de mesure nucléaire non destructive active constitue la suite de l’article [BN 3 405] consacré, en grande partie, aux principales méthodes de mesure nucléaire non destructive passive.
Article : texte imprimé
Michel Kasser, Auteur
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Cet article détaille le système de localisation satellitaire étasunien GPS, son principe de fonctionnement, les différents matériels, les modes de réception et de traitement des signaux, avec les exactitudes possibles correspondantes. Son emploi[...]
Article : texte imprimé
Sébastien DUCOURTIEUX, Auteur ;
Benoît POYET, Auteur
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Cet article décrit le contexte du développement et la mise en œuvre d’un microscope à force atomique métrologique. C’est un instrument de référence, traçable au Système international d’unités et dédié à la pratique de la nanométrologie dimension[...]
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