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Ajouter le résultat dans votre panierDéfis analytiques liés aux nanomatériaux / Le Hecho, Isabelle in Techniques de l'ingénieur TA, Vol. TA1 (Trimestriel)
in Techniques de l'ingénieur TA > Vol. TA1 (Trimestriel) . - 9 p.
Titre : Défis analytiques liés aux nanomatériaux Type de document : texte imprimé Auteurs : Le Hecho, Isabelle, Auteur Année de publication : 2007 Article en page(s) : 9 p. Note générale : Bibliogr. Langues : Français (fre) Mots-clés : Défis analytiques Nanomatériaux Résumé : Les systèmes colloïdaux se réfèrent à des particules dispersées dans une phase liquide. Leurs propriétés remarquables de stabilité et/ou de couleur ont suscité depuis plusieurs siècles la curiosité des alchimistes qui ont développé de nombreuses préparations dans des domaines aussi variés que ceux liés à la métallurgie ou à la médecine. Le terme colloïde n’a pourtant été utilisé pour la première fois qu’en 1861 par le chimiste britannique Thomas Graham qui caractérisa la dispersion de fines particules d’or responsables de la coloration de certains rubis artificiels [GRAHAM (T.) - Liquid diffusion applied to analysis] . La première observation de systèmes colloïdaux fut réalisée en 1903, par le chimiste austro-hongrois Richard Zsigmondy [DERJAGUIN (B.V.), VLASENKO (G.J.), STOROZHILOVA (A.I.), KUDRJAVTSEVA (N.M.) - Flow-ultramicroscopic method of determining the number concentration ans particle size analysis of aerosols and hydrosols] . Ce chimiste a en effet conçu le premier ultra-microscope permettant d’observer des particules de tailles inférieures à 400 nm dispersées dans un milieu aqueux. Plus récemment, dans la deuxième moitié du vingtième siècle, les scientifiques ont poursuivi leur investigation avec des moyens de plus en plus performants tels que la microscopie électronique. Il est alors devenu possible d’explorer la matière et les particules à l’échelle nanométrique.
Aujourd’hui, les nanomatériaux suscitent plus que jamais l’intérêt des scientifiques de par leur taille et leurs propriétés physico-chimiques. Ils sont désormais au cœur de ce que certains scientifiques n’hésitent pas à qualifier de révolution technologique [PAUTRAT (J.L.), MAGNEA (N.) - Le nanomonde : de la science aux applications] . Dans ce contexte, les enjeux liés aux outils d’investigation sont extrêmement importants. En effet, pour comprendre et maîtriser la matière, il faut être capable de l’observer finement. Ceci nécessite de disposer de techniques performantes non seulement en terme de résolution en taille, mais également, en termes de précision, de vitesse d’acquisition des données, de pertinence et de complémentarité des données acquises. Dès lors, les développements analytiques de pointe représentent une réponse à ces exigences ainsi qu’aux besoins exprimés dans des domaines d’applications aussi variés que la biopharmacie, la médecine, l’électronique, l’énergétique ou l’environnement.REFERENCE : NM 8 015 DEWEY : 540 Date : Octobre 2010 En ligne : http://www.techniques-ingenieur.fr/base-documentaire/energies-th4/innovations-en [...] [article] Défis analytiques liés aux nanomatériaux [texte imprimé] / Le Hecho, Isabelle, Auteur . - 2007 . - 9 p.
Bibliogr.
Langues : Français (fre)
in Techniques de l'ingénieur TA > Vol. TA1 (Trimestriel) . - 9 p.
Mots-clés : Défis analytiques Nanomatériaux Résumé : Les systèmes colloïdaux se réfèrent à des particules dispersées dans une phase liquide. Leurs propriétés remarquables de stabilité et/ou de couleur ont suscité depuis plusieurs siècles la curiosité des alchimistes qui ont développé de nombreuses préparations dans des domaines aussi variés que ceux liés à la métallurgie ou à la médecine. Le terme colloïde n’a pourtant été utilisé pour la première fois qu’en 1861 par le chimiste britannique Thomas Graham qui caractérisa la dispersion de fines particules d’or responsables de la coloration de certains rubis artificiels [GRAHAM (T.) - Liquid diffusion applied to analysis] . La première observation de systèmes colloïdaux fut réalisée en 1903, par le chimiste austro-hongrois Richard Zsigmondy [DERJAGUIN (B.V.), VLASENKO (G.J.), STOROZHILOVA (A.I.), KUDRJAVTSEVA (N.M.) - Flow-ultramicroscopic method of determining the number concentration ans particle size analysis of aerosols and hydrosols] . Ce chimiste a en effet conçu le premier ultra-microscope permettant d’observer des particules de tailles inférieures à 400 nm dispersées dans un milieu aqueux. Plus récemment, dans la deuxième moitié du vingtième siècle, les scientifiques ont poursuivi leur investigation avec des moyens de plus en plus performants tels que la microscopie électronique. Il est alors devenu possible d’explorer la matière et les particules à l’échelle nanométrique.
Aujourd’hui, les nanomatériaux suscitent plus que jamais l’intérêt des scientifiques de par leur taille et leurs propriétés physico-chimiques. Ils sont désormais au cœur de ce que certains scientifiques n’hésitent pas à qualifier de révolution technologique [PAUTRAT (J.L.), MAGNEA (N.) - Le nanomonde : de la science aux applications] . Dans ce contexte, les enjeux liés aux outils d’investigation sont extrêmement importants. En effet, pour comprendre et maîtriser la matière, il faut être capable de l’observer finement. Ceci nécessite de disposer de techniques performantes non seulement en terme de résolution en taille, mais également, en termes de précision, de vitesse d’acquisition des données, de pertinence et de complémentarité des données acquises. Dès lors, les développements analytiques de pointe représentent une réponse à ces exigences ainsi qu’aux besoins exprimés dans des domaines d’applications aussi variés que la biopharmacie, la médecine, l’électronique, l’énergétique ou l’environnement.REFERENCE : NM 8 015 DEWEY : 540 Date : Octobre 2010 En ligne : http://www.techniques-ingenieur.fr/base-documentaire/energies-th4/innovations-en [...]
in Techniques de l'ingénieur TA > Vol. TA1 (Trimestriel) . - 10 p.
Titre : Classification périodique des éléments Type de document : texte imprimé Auteurs : Mireille Defranceschi, Auteur Année de publication : 2007 Article en page(s) : 10 p. Note générale : Bibliogr. Langues : Français (fre) Mots-clés : Classification Périodique Eléments Résumé : Considérant que les propriétés des éléments chimiques ne sont pas le fruit du hasard et qu'elles varient de façon périodique en fonction de la masse atomique des éléments représentés, Dmitri Ivanovitch Mendeleïev (1834-1907) décrivit entre 1869 et 1871 un tableau comportant huit colonnes, dans lesquelles étaient rassemblés des éléments possédant des propriétés voisines classés par ordre de masse atomique croissante de haut en bas et dix neuf lignes dans lesquelles les éléments étaient répartis par masse atomique croissante de gauche à droite. La disposition faisait que, dans une même colonne, ne figuraient que des éléments de propriétés chimiques voisines.
Cette classification périodique est différente de celle utilisée aujourd'hui mais similaire dans son principe : elle propose une classification systématique des éléments chimiques étroitement liée à la périodicité de leurs propriétés chimiques.
Le tableau périodique a connu de nombreux réajustements depuis la fin du XIXe siècle, il s'est enrichi d'éléments naturels inconnus à l'époque de Mendeleïev – mais que Mendeleïev avait prévus en laissant des cases vides dans son tableau –, d'éléments artificiels jusqu'à prendre la forme que nous lui connaissons aujourd'hui. C'est un classement universel, qui s'est enrichi de données physiques et auquel peuvent être rapportés tous les types de comportements physique et chimique des éléments. Actuellement, sa forme standard comporte 118 éléments, allant de 1H à 118Uuo.
Dans le tableau des éléments sont fournies diverses grandeurs physiques et chimiques, qui sont caractéristiques de l'élément. Ces grandeurs sont des valeurs de référence, c'est-à-dire qu'elles ont été normalisées par différentes organisations, comme l'Union Internationale de Chimie Pure et Appliquée (UICPA), aussi désignée par son nom anglais IUPAC, et le National Bureau of Standards (NBS) ou encore le Committee on Data for Science and Technology (CODATA). Ces grandeurs sont détaillées dans la suite.
REFERENCE : 25V2 Date : Janvier 2012 En ligne : http://www.techniques-ingenieur.fr/base-documentaire/electronique-photonique-th1 [...] [article] Classification périodique des éléments [texte imprimé] / Mireille Defranceschi, Auteur . - 2007 . - 10 p.
Bibliogr.
Langues : Français (fre)
in Techniques de l'ingénieur TA > Vol. TA1 (Trimestriel) . - 10 p.
Mots-clés : Classification Périodique Eléments Résumé : Considérant que les propriétés des éléments chimiques ne sont pas le fruit du hasard et qu'elles varient de façon périodique en fonction de la masse atomique des éléments représentés, Dmitri Ivanovitch Mendeleïev (1834-1907) décrivit entre 1869 et 1871 un tableau comportant huit colonnes, dans lesquelles étaient rassemblés des éléments possédant des propriétés voisines classés par ordre de masse atomique croissante de haut en bas et dix neuf lignes dans lesquelles les éléments étaient répartis par masse atomique croissante de gauche à droite. La disposition faisait que, dans une même colonne, ne figuraient que des éléments de propriétés chimiques voisines.
Cette classification périodique est différente de celle utilisée aujourd'hui mais similaire dans son principe : elle propose une classification systématique des éléments chimiques étroitement liée à la périodicité de leurs propriétés chimiques.
Le tableau périodique a connu de nombreux réajustements depuis la fin du XIXe siècle, il s'est enrichi d'éléments naturels inconnus à l'époque de Mendeleïev – mais que Mendeleïev avait prévus en laissant des cases vides dans son tableau –, d'éléments artificiels jusqu'à prendre la forme que nous lui connaissons aujourd'hui. C'est un classement universel, qui s'est enrichi de données physiques et auquel peuvent être rapportés tous les types de comportements physique et chimique des éléments. Actuellement, sa forme standard comporte 118 éléments, allant de 1H à 118Uuo.
Dans le tableau des éléments sont fournies diverses grandeurs physiques et chimiques, qui sont caractéristiques de l'élément. Ces grandeurs sont des valeurs de référence, c'est-à-dire qu'elles ont été normalisées par différentes organisations, comme l'Union Internationale de Chimie Pure et Appliquée (UICPA), aussi désignée par son nom anglais IUPAC, et le National Bureau of Standards (NBS) ou encore le Committee on Data for Science and Technology (CODATA). Ces grandeurs sont détaillées dans la suite.
REFERENCE : 25V2 Date : Janvier 2012 En ligne : http://www.techniques-ingenieur.fr/base-documentaire/electronique-photonique-th1 [...]
in Techniques de l'ingénieur TA > Vol. TA1 (Trimestriel) . - 21 p.
Titre : ICP-OES: couplage plasma induit par haute fréquence-spectrométrie optique Type de document : texte imprimé Auteurs : Jérôme Frayret, Auteur ; Mermet, Jean-Michel, Auteur ; Paucot, Hugues, Auteur Année de publication : 2007 Article en page(s) : 21 p. Note générale : Bibliogr. Langues : Français (fre) Mots-clés : ICP-OES ICP-AES Plasma d'argon Nébuliseur Spectromètre Résumé : Un ICP-OES, appareil qui résulte du couplage entre un plasma d’argon induit par haute fréquence et un spectromètre, est un instrument de mesure destiné à réaliser des analyses élémentaires par spectrométrie d’émission atomique. Ces appareils se caractérisent par une grande souplesse, tant en ce qui concerne le type d’échantillon analysé (liquide aqueux ou solvants organiques, solutions chargées en sels dissous…), que des éléments analysés (plus de 70), et cela à plusieurs longueurs d’onde. Technique multi-élémentaire, elle peut être qualitative mais est surtout employée pour effectuer des analyses quantitatives.
Les divers principes de fonctionnement, les performances analytiques ainsi que l’état du marché sont décrits dans cet article.
REFERENCE : P 2 719v2 Date : Septembre 2012 En ligne : http://www.techniques-ingenieur.fr/base-documentaire/mesures-analyses-th1/spectr [...] [article] ICP-OES: couplage plasma induit par haute fréquence-spectrométrie optique [texte imprimé] / Jérôme Frayret, Auteur ; Mermet, Jean-Michel, Auteur ; Paucot, Hugues, Auteur . - 2007 . - 21 p.
Bibliogr.
Langues : Français (fre)
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Mots-clés : ICP-OES ICP-AES Plasma d'argon Nébuliseur Spectromètre Résumé : Un ICP-OES, appareil qui résulte du couplage entre un plasma d’argon induit par haute fréquence et un spectromètre, est un instrument de mesure destiné à réaliser des analyses élémentaires par spectrométrie d’émission atomique. Ces appareils se caractérisent par une grande souplesse, tant en ce qui concerne le type d’échantillon analysé (liquide aqueux ou solvants organiques, solutions chargées en sels dissous…), que des éléments analysés (plus de 70), et cela à plusieurs longueurs d’onde. Technique multi-élémentaire, elle peut être qualitative mais est surtout employée pour effectuer des analyses quantitatives.
Les divers principes de fonctionnement, les performances analytiques ainsi que l’état du marché sont décrits dans cet article.
REFERENCE : P 2 719v2 Date : Septembre 2012 En ligne : http://www.techniques-ingenieur.fr/base-documentaire/mesures-analyses-th1/spectr [...]
in Techniques de l'ingénieur TA > Vol. TA1 (Trimestriel) . - 19 p.
Titre : Microscopie électronique : principe et équipement Type de document : texte imprimé Auteurs : Jacky Ruste, Auteur Année de publication : 2007 Article en page(s) : 19 p. Note générale : Bibliogr. Langues : Français (fre) Mots-clés : Microscopie électronique; Balayage Résumé : La microscopie électronique à balayage (MEB ou « Scanning Electron Microscopy » SEM) est une technique puissante d’observation de la topographie des surfaces. Elle est fondée principalement sur la détection des électrons secondaires émergents de la surface sous l’impact d’un très fin pinceau d’électrons primaires qui balaye la surface observée et permet d’obtenir des images avec un pouvoir séparateur souvent inférieur à 5 nm et une grande profondeur de champ.
Elle utilise, en complément, les autres interactions des électrons primaires avec l’échantillon : émergence des électrons rétrodiffusés, absorption des électrons primaires, ainsi que l’émission de photons X et parfois celle de photons proches du visible. Chacune de ces interactions est souvent significative de la topographie et/ou de la composition de la surface.
L’instrument permet de former un pinceau quasi parallèle, très fin (jusqu’à quelques nanomètres), d’électrons fortement accélérés par des tensions réglables de 0,1 à 30 kV, de le focaliser sur la zone à examiner et de la balayer progressivement. Des détecteurs appropriés, détecteurs d’électrons spécifiques (secondaires, rétrodiffusés, parfois absorbés...), complétés par des détecteurs de photons, permettent de recueillir des signaux significatifs lors du balayage de la surface et d’en former diverses images significatives.
La première partie du dossier Microscopie électronique à balayage rappelle sommairement les interactions sources d’imagerie et la constitution de l’instrument courant. La seconde partie précise la formation des images, les sources de contrastes, les récents développements de l’instrument et les diverses applications.REFERENCE : P 865v3 Date : Mars 2013 En ligne : http://www.techniques-ingenieur.fr/base-documentaire/archives-th12/archives-tech [...] [article] Microscopie électronique : principe et équipement [texte imprimé] / Jacky Ruste, Auteur . - 2007 . - 19 p.
Bibliogr.
Langues : Français (fre)
in Techniques de l'ingénieur TA > Vol. TA1 (Trimestriel) . - 19 p.
Mots-clés : Microscopie électronique; Balayage Résumé : La microscopie électronique à balayage (MEB ou « Scanning Electron Microscopy » SEM) est une technique puissante d’observation de la topographie des surfaces. Elle est fondée principalement sur la détection des électrons secondaires émergents de la surface sous l’impact d’un très fin pinceau d’électrons primaires qui balaye la surface observée et permet d’obtenir des images avec un pouvoir séparateur souvent inférieur à 5 nm et une grande profondeur de champ.
Elle utilise, en complément, les autres interactions des électrons primaires avec l’échantillon : émergence des électrons rétrodiffusés, absorption des électrons primaires, ainsi que l’émission de photons X et parfois celle de photons proches du visible. Chacune de ces interactions est souvent significative de la topographie et/ou de la composition de la surface.
L’instrument permet de former un pinceau quasi parallèle, très fin (jusqu’à quelques nanomètres), d’électrons fortement accélérés par des tensions réglables de 0,1 à 30 kV, de le focaliser sur la zone à examiner et de la balayer progressivement. Des détecteurs appropriés, détecteurs d’électrons spécifiques (secondaires, rétrodiffusés, parfois absorbés...), complétés par des détecteurs de photons, permettent de recueillir des signaux significatifs lors du balayage de la surface et d’en former diverses images significatives.
La première partie du dossier Microscopie électronique à balayage rappelle sommairement les interactions sources d’imagerie et la constitution de l’instrument courant. La seconde partie précise la formation des images, les sources de contrastes, les récents développements de l’instrument et les diverses applications.REFERENCE : P 865v3 Date : Mars 2013 En ligne : http://www.techniques-ingenieur.fr/base-documentaire/archives-th12/archives-tech [...]
in Techniques de l'ingénieur TA > Vol. TA1 (Trimestriel) . - 21 p.
Titre : Microscopie électronique à balayage : images. applications et développements Type de document : texte imprimé Auteurs : Jacky Ruste, Auteur Année de publication : 2007 Article en page(s) : 21 p. Note générale : Bibliogr. Langues : Français (fre) Mots-clés : MEB; Électron; Topographie; Matériaux; Électronique; Microscopie électronique; Imagerie Résumé : Ce texte explique les différents contrastes observés en microscopie électronique à balayage ; il décrit les différents domaines d’application de cette technique et aborde les nouveaux développements qu’elle connait depuis ces dernières années. REFERENCE : P 866v2 Date : Mars 2013 En ligne : http://www.techniques-ingenieur.fr/base-documentaire/mesures-analyses-th1/techni [...] [article] Microscopie électronique à balayage : images. applications et développements [texte imprimé] / Jacky Ruste, Auteur . - 2007 . - 21 p.
Bibliogr.
Langues : Français (fre)
in Techniques de l'ingénieur TA > Vol. TA1 (Trimestriel) . - 21 p.
Mots-clés : MEB; Électron; Topographie; Matériaux; Électronique; Microscopie électronique; Imagerie Résumé : Ce texte explique les différents contrastes observés en microscopie électronique à balayage ; il décrit les différents domaines d’application de cette technique et aborde les nouveaux développements qu’elle connait depuis ces dernières années. REFERENCE : P 866v2 Date : Mars 2013 En ligne : http://www.techniques-ingenieur.fr/base-documentaire/mesures-analyses-th1/techni [...]
in Techniques de l'ingénieur TA > Vol. TA1 (Trimestriel) . - 9 p.
Titre : Sécurité du paiement mobile NFC Type de document : texte imprimé Auteurs : Bertrand Pladeau, Auteur ; Ahmad Saif, Auteur Année de publication : 2007 Article en page(s) : 9 p. Note générale : Bibliogr. Langues : Français (fre) Mots-clés : Sécurité informatique; Sécurité des systèmes d'informations; Télécommunications; Paiement; Communications numériques; sécurité; Communications sans contact Résumé : L’arrivée de nouveaux moyens de paiement électronique bouleverse les habitudes des consommateurs et des commerçants. Le paiement grâce au téléphone équipé de la technologi e NFC (Near Field Communication) semble le plus prometteur et introduit une vraie rupture d’usage en élargissant le champ des possibilités lors de l’acte d’achat.
De nouveaux schémas techniques de paiement sont ainsi mis en place. Mais quel niveau de sécurité offrent-ils ? Comment les responsabilités sont-elles réparties ? Quels sont les points sensibles de la solution de paiement mobile NFC ? Autant de questions auxquelles cet article tente de répondre...
REFERENCE : H 3 580 Date : Avril 2013 En ligne : http://www.techniques-ingenieur.fr/base-documentaire/technologies-de-l-informati [...] [article] Sécurité du paiement mobile NFC [texte imprimé] / Bertrand Pladeau, Auteur ; Ahmad Saif, Auteur . - 2007 . - 9 p.
Bibliogr.
Langues : Français (fre)
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Mots-clés : Sécurité informatique; Sécurité des systèmes d'informations; Télécommunications; Paiement; Communications numériques; sécurité; Communications sans contact Résumé : L’arrivée de nouveaux moyens de paiement électronique bouleverse les habitudes des consommateurs et des commerçants. Le paiement grâce au téléphone équipé de la technologi e NFC (Near Field Communication) semble le plus prometteur et introduit une vraie rupture d’usage en élargissant le champ des possibilités lors de l’acte d’achat.
De nouveaux schémas techniques de paiement sont ainsi mis en place. Mais quel niveau de sécurité offrent-ils ? Comment les responsabilités sont-elles réparties ? Quels sont les points sensibles de la solution de paiement mobile NFC ? Autant de questions auxquelles cet article tente de répondre...
REFERENCE : H 3 580 Date : Avril 2013 En ligne : http://www.techniques-ingenieur.fr/base-documentaire/technologies-de-l-informati [...]
in Techniques de l'ingénieur TA > Vol. TA1 (Trimestriel)
Titre : Audits de sécurité : méthodologies, outils et retour d'expérience Type de document : texte imprimé Auteurs : Laurent Butti, Auteur Année de publication : 2007 Langues : Français (fre) Mots-clés : Informatique; Sécurité Résumé : L’audit est une brique nécessaire de l’implémentation de la roue de Deming représentative du cycle d’amélioration continue.
Dans un contexte de système d’information, l’audit de sécurité doit vérifier que les phases amont sont bien implémentées en vue d’émettre les recommandations nécessaires pour la correction des vulnérabilités éventuellement découvertes.
Cet article présente les principales approches et outils utilisés lors des audits de sécurité techniques, que ce soit aux niveaux système, réseau ou applicatif.
REFERENCE : H 5 130 Date : Avril 2013 En ligne : http://www.techniques-ingenieur.fr/base-documentaire/technologies-de-l-informati [...] [article] Audits de sécurité : méthodologies, outils et retour d'expérience [texte imprimé] / Laurent Butti, Auteur . - 2007.
Langues : Français (fre)
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Mots-clés : Informatique; Sécurité Résumé : L’audit est une brique nécessaire de l’implémentation de la roue de Deming représentative du cycle d’amélioration continue.
Dans un contexte de système d’information, l’audit de sécurité doit vérifier que les phases amont sont bien implémentées en vue d’émettre les recommandations nécessaires pour la correction des vulnérabilités éventuellement découvertes.
Cet article présente les principales approches et outils utilisés lors des audits de sécurité techniques, que ce soit aux niveaux système, réseau ou applicatif.
REFERENCE : H 5 130 Date : Avril 2013 En ligne : http://www.techniques-ingenieur.fr/base-documentaire/technologies-de-l-informati [...]
in Techniques de l'ingénieur TA > Vol. TA1 (Trimestriel) . - pp. 1-16
Titre : Spectroscopie de diffusion Raman en conditions extrêmes Type de document : texte imprimé Auteurs : Aurélien Canizares, Auteur ; Patrick Simon, Auteur ; Guillaume Guimbretiere, Auteur Année de publication : 2007 Article en page(s) : pp. 1-16 Note générale : Innovations technologiques Langues : Français (fre) Mots-clés : Raman; Nucléaire; Haute température; Innovations technologiques; Conditions extrêmes Résumé : Cet article, dédié à la spectroscopie de diffusion Raman appliquée aux conditions extrêmes, présente, en complément d'autres articles de notre collection, un état de l'art de l'instrumentation et de la méthodologie Raman via le détail des dernières évolutions technologiques ainsi que les difficultés rencontrées liées aux conditions extrêmes. Il montre ensuite des exemples d'applications aux milieux hostiles (relaxation structurale de la silice pendant le recuit, suivi in situ de l'altération du dioxyde d'uranium sous radiolyse). Note de contenu : Bibiogr. REFERENCE : IN 164 Date : Septombre 2013 En ligne : http://www.techniques-ingenieur.fr/base-documentaire/innovations-th10/innovation [...] [article] Spectroscopie de diffusion Raman en conditions extrêmes [texte imprimé] / Aurélien Canizares, Auteur ; Patrick Simon, Auteur ; Guillaume Guimbretiere, Auteur . - 2007 . - pp. 1-16.
Innovations technologiques
Langues : Français (fre)
in Techniques de l'ingénieur TA > Vol. TA1 (Trimestriel) . - pp. 1-16
Mots-clés : Raman; Nucléaire; Haute température; Innovations technologiques; Conditions extrêmes Résumé : Cet article, dédié à la spectroscopie de diffusion Raman appliquée aux conditions extrêmes, présente, en complément d'autres articles de notre collection, un état de l'art de l'instrumentation et de la méthodologie Raman via le détail des dernières évolutions technologiques ainsi que les difficultés rencontrées liées aux conditions extrêmes. Il montre ensuite des exemples d'applications aux milieux hostiles (relaxation structurale de la silice pendant le recuit, suivi in situ de l'altération du dioxyde d'uranium sous radiolyse). Note de contenu : Bibiogr. REFERENCE : IN 164 Date : Septombre 2013 En ligne : http://www.techniques-ingenieur.fr/base-documentaire/innovations-th10/innovation [...]
in Techniques de l'ingénieur TA > Vol. TA1 (Trimestriel) . - pp. 1-15
Titre : Sonde atomique tomographique SAT Type de document : texte imprimé Auteurs : Didier Blavette, Auteur ; François Vurpillot, Auteur ; Bernard Deconihout, Auteur Année de publication : 2007 Article en page(s) : pp. 1-15 Note générale : Techniques d'analyse Langues : Français (fre) Mots-clés : Sonde atomique; Tomographique SAT; Évaporation; Spectrométrie de masse à temps de vol; Reconstruction 3D; sonde atomique; Chimique des ions Résumé : La sonde atomique tomographique SAT répond aux besoins croissants d’analyse et d’imagerie en nanotechnologie. Elle permet d’imager un bout d’échantillon atome par atome dans les trois dimensions de l’espace avec une résolution subnanométrique. Elle est d’un usage très répandu : plus de 70 laboratoires académiques ou industriels sont équipés de sa version commerciale et l’utilisent de façon routinière aux côtés d’autres moyens de caractérisation comme le microscope électronique à haute résolution ou le SIMS, qui bien que puissants sont par nature limités à deux dimensions. Dans cet article le principe de la sonde atomique laser est présenté et des exemples applicatifs concrets en nanotechnologie sont donnés. Note de contenu : Bibliogr. REFERENCE : P 900v2 Date : Décembre 2013 En ligne : http://www.techniques-ingenieur.fr/base-documentaire/mesures-analyses-th1/analys [...] [article] Sonde atomique tomographique SAT [texte imprimé] / Didier Blavette, Auteur ; François Vurpillot, Auteur ; Bernard Deconihout, Auteur . - 2007 . - pp. 1-15.
Techniques d'analyse
Langues : Français (fre)
in Techniques de l'ingénieur TA > Vol. TA1 (Trimestriel) . - pp. 1-15
Mots-clés : Sonde atomique; Tomographique SAT; Évaporation; Spectrométrie de masse à temps de vol; Reconstruction 3D; sonde atomique; Chimique des ions Résumé : La sonde atomique tomographique SAT répond aux besoins croissants d’analyse et d’imagerie en nanotechnologie. Elle permet d’imager un bout d’échantillon atome par atome dans les trois dimensions de l’espace avec une résolution subnanométrique. Elle est d’un usage très répandu : plus de 70 laboratoires académiques ou industriels sont équipés de sa version commerciale et l’utilisent de façon routinière aux côtés d’autres moyens de caractérisation comme le microscope électronique à haute résolution ou le SIMS, qui bien que puissants sont par nature limités à deux dimensions. Dans cet article le principe de la sonde atomique laser est présenté et des exemples applicatifs concrets en nanotechnologie sont donnés. Note de contenu : Bibliogr. REFERENCE : P 900v2 Date : Décembre 2013 En ligne : http://www.techniques-ingenieur.fr/base-documentaire/mesures-analyses-th1/analys [...]
in Techniques de l'ingénieur TA > Vol. TA1 (Trimestriel) . - pp.1-30
Titre : Tomographie à rayons X Type de document : texte imprimé Auteurs : Christian Thiery, Auteur Année de publication : 2007 Article en page(s) : pp.1-30 Note générale : Contrôle non destructif Langues : Français (fre) Mots-clés : Reconstruction 3D; Détecteurs; Artefact; CND tous secteurs; Comportement des matériaux; Rayonnements ionisants; Imagerie Résumé : La tomographie est une technique de contrôle de pièces et de matériaux par interaction Rayonnement-Matière et reconstruction en 3D par collection de données suivant de multiples orientations.
Son domaine est étendu en Contrôle Non Destructif, à tous types de pièces et matériaux (légers ou lourds) allant de l’infiniment petit (nanotomographie) au volumineux (tomographie industrielle de gros objets).
Cet état de l’art qui décrit l’historique,les principes physiques, les appareillages, l’évolution et les écueils à éviter, s’appuie sur de nombreux exemples réels d’applicationsNote de contenu : Bibliogr. REFERENCE : P 950v3 Date : Décembre 2013 En ligne : http://www.techniques-ingenieur.fr/base-documentaire/mesures-analyses-th1/cnd-me [...] [article] Tomographie à rayons X [texte imprimé] / Christian Thiery, Auteur . - 2007 . - pp.1-30.
Contrôle non destructif
Langues : Français (fre)
in Techniques de l'ingénieur TA > Vol. TA1 (Trimestriel) . - pp.1-30
Mots-clés : Reconstruction 3D; Détecteurs; Artefact; CND tous secteurs; Comportement des matériaux; Rayonnements ionisants; Imagerie Résumé : La tomographie est une technique de contrôle de pièces et de matériaux par interaction Rayonnement-Matière et reconstruction en 3D par collection de données suivant de multiples orientations.
Son domaine est étendu en Contrôle Non Destructif, à tous types de pièces et matériaux (légers ou lourds) allant de l’infiniment petit (nanotomographie) au volumineux (tomographie industrielle de gros objets).
Cet état de l’art qui décrit l’historique,les principes physiques, les appareillages, l’évolution et les écueils à éviter, s’appuie sur de nombreux exemples réels d’applicationsNote de contenu : Bibliogr. REFERENCE : P 950v3 Date : Décembre 2013 En ligne : http://www.techniques-ingenieur.fr/base-documentaire/mesures-analyses-th1/cnd-me [...]
Exemplaires
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