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Fiabilité des systèmes VLSI : test, testabilité et vérification des machines séquentielles

Belaifa, Salah Salim, Auteur ; Farah, Ahcene, Directeur de thèse | [S.l.] : [s.n.] | 1998

Ce travail comporte deux parties: * La première partie a pour but de donner les fondements de base de la fiabilité, test, et vérification des circuits intégrés en particulier les systèmes VLSI. * La deuxième partie consiste à réaliser un logic[...]

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