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Méthodes de test d'une famille de micro-ordinateur / Boutria, Mohamed 

Public ISBD Titre : Méthodes de test d'une famille de micro-ordinateur Type de document : texte imprimé Auteurs : Boutria, Mohamed, Auteur ; Soufi, Messaoud, Auteur ; Kaminska, B., Directeur de thèse Editeur : [S.l.] : [s.n.] Année de publication : 1985 Importance : 74 f. Présentation : ill. Format : 27 cm. Note générale : Mémoire de Projet de Fin d’Études : Électronique : Alger, École Nationale Polytechnique : 1985 Bibliogr.: [1] f Langues : Français (fre) Mots-clés : Circuits  intégrés Test  --  Mémoires Test  --  Microprocesseurs Index. décimale : PN01785 Résumé : Dans ce travail on expose les spécificités du problème de test des circuits intégrés (LSI et VLSI) entrants dans la constitution des micro-ordinateurs. On donne par la suite quelques méthodes utilisées pour le test de ce type de circuit. Méthodes de test d'une famille de micro-ordinateur [texte imprimé] / Boutria, Mohamed, Auteur ; Soufi, Messaoud, Auteur ; Kaminska, B., Directeur de thèse . - [S.l.] : [s.n.], 1985 . - 74 f. : ill. ; 27 cm. Mémoire de Projet de Fin d’Études : Électronique : Alger, École Nationale Polytechnique : 1985 Bibliogr.: [1] f Langues : Français (fre) Mots-clés : Circuits  intégrés Test  --  Mémoires Test  --  Microprocesseurs Index. décimale : PN01785 Résumé : Dans ce travail on expose les spécificités du problème de test des circuits intégrés (LSI et VLSI) entrants dans la constitution des micro-ordinateurs. On donne par la suite quelques méthodes utilisées pour le test de ce type de circuit.

Exemplaires

Code-barres	Cote	Support	Localisation	Section	Disponibilité	Spécialité	Etat_Exemplaire
PN01785	PN01785	Papier + ressource électronique	Bibliothèque centrale	Projet Fin d'Etudes	Disponible	Electronique	Consultation sur place/Téléchargeable

Documents numériques

BOUTRIA.Mohamed_SOUFI.Messaoud.pdf URL