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Méthodes de test d'une famille de micro-ordinateur

Boutria, Mohamed, Auteur ; Soufi, Messaoud, Auteur ; Kaminska, B., Directeur de thèse | [S.l.] : [s.n.] | 1985

Dans ce travail on expose les spécificités du problème de test des circuits intégrés (LSI et VLSI) entrants dans la constitution des micro-ordinateurs. On donne par la suite quelques méthodes utilisées pour le test de ce type de circuit.

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