Auteur Buchloz, V. L.
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Buchloz, V. L., Auteur ; Nagpal, M., Auteur ; Neilson, Bruce ; Parsi-Feraidoonian, R. ; Zarecki, W. |High impedance or down conductor fault detection devices are now commercially available for evaluation. However, security and dependability of these devices can not be tested using conventional relay test apparatus and procedures. This paper pre[...]

