Titre : |
Simulation en VHDL et génération de test : application à un multiplieur |
Type de document : |
texte imprimé |
Auteurs : |
Laidi, Kamel, Auteur ; Boubakir, Chaâbane, Auteur ; Farah, A., Directeur de thèse |
Editeur : |
[S.l.] : [s.n.] |
Année de publication : |
1995 |
Importance : |
67 f. |
Présentation : |
ill. |
Format : |
30 cm. |
Note générale : |
Mémoire de Projet de Fin d’Études : Électronique : Alger, École Nationale Polytechnique : 1995
Annexe [4] f. - Bibliogr. [2] f |
Langues : |
Français (fre) |
Mots-clés : |
Simulation en VHDL
Circuits logiques
Description du matériel
Multiplieur de nombres entiers
Testabilité des circuits intégrés
Approche hiérarchique
Multiplieur simulé |
Index. décimale : |
PN01295 |
Résumé : |
Ce travail contient deux parties principales:
* La première traite la manière de simulation en VHDL des circuits logiques par le langage de description de matériel VLSI nommé VHDL, ainsi qu'une application de ce langage pour élaborer un programme d'un multiplieur des nombres entiers
* La deuxième partie traite le test et la testabilité des circuits intégrés, les différentes approches de vérification de leurs fonctionnalités, puis une application d'une approche hiérarchique de génération de test pour le multiplieur simulé. |
Simulation en VHDL et génération de test : application à un multiplieur [texte imprimé] / Laidi, Kamel, Auteur ; Boubakir, Chaâbane, Auteur ; Farah, A., Directeur de thèse . - [S.l.] : [s.n.], 1995 . - 67 f. : ill. ; 30 cm. Mémoire de Projet de Fin d’Études : Électronique : Alger, École Nationale Polytechnique : 1995
Annexe [4] f. - Bibliogr. [2] f Langues : Français ( fre) |