| Titre : |
Etude de la fiabilité des semi conducteurs de la production nationale |
| Type de document : |
texte imprimé |
| Auteurs : |
Mahroug-Erras, Mohamed, Auteur ; Bougrinat, Mohamed, Auteur ; M. Baghli, Directeur de thèse |
| Editeur : |
[S.l.] : [s.n.] |
| Année de publication : |
1980 |
| Importance : |
110 f. |
| Présentation : |
ill. |
| Format : |
30 cm. |
| Note générale : |
Mémoire de Projet de Fin d’Études : Électronique : Alger, Université des Sciences et de la Technologie Houari Boumedienne . École Nationale Polytechnique : 1980
Bibliogr. [2] f. - Annexe |
| Langues : |
Français (fre) |
| Mots-clés : |
Semi-conducteurs -- Production nationale
Production nationale |
| Index. décimale : |
PN02580 |
| Résumé : |
Ce projet consiste en l'étude de la fiabilité des semi-condusteurs de la production nationale au sein du complexe électronique grand public de Sidi-Bel-Abbes.
En premier on a jugé utile de rassembler les éléments mathématiques nécessaires et de suivre le procès de fabrication des semi-conducteurs depuis la plaquette de silicium vierge jusqu'à la finition du produit afin de pouvoir localiser les origines des défauts.
Comme la fiabilité n'est autre qu'une caractéristiques de la qualité, un exposé sur les méthodes d'échantillonnage en contre de qualité est traité en annexe. |
Etude de la fiabilité des semi conducteurs de la production nationale [texte imprimé] / Mahroug-Erras, Mohamed, Auteur ; Bougrinat, Mohamed, Auteur ; M. Baghli, Directeur de thèse . - [S.l.] : [s.n.], 1980 . - 110 f. : ill. ; 30 cm. Mémoire de Projet de Fin d’Études : Électronique : Alger, Université des Sciences et de la Technologie Houari Boumedienne . École Nationale Polytechnique : 1980
Bibliogr. [2] f. - Annexe Langues : Français ( fre)
| Mots-clés : |
Semi-conducteurs -- Production nationale
Production nationale |
| Index. décimale : |
PN02580 |
| Résumé : |
Ce projet consiste en l'étude de la fiabilité des semi-condusteurs de la production nationale au sein du complexe électronique grand public de Sidi-Bel-Abbes.
En premier on a jugé utile de rassembler les éléments mathématiques nécessaires et de suivre le procès de fabrication des semi-conducteurs depuis la plaquette de silicium vierge jusqu'à la finition du produit afin de pouvoir localiser les origines des défauts.
Comme la fiabilité n'est autre qu'une caractéristiques de la qualité, un exposé sur les méthodes d'échantillonnage en contre de qualité est traité en annexe. |
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PN00100 
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