| Titre : |
Méthodes de test d'une famille de micro-ordinateur |
| Type de document : |
texte imprimé |
| Auteurs : |
Boutria, Mohamed, Auteur ; Soufi, Messaoud, Auteur ; Kaminska, B., Directeur de thèse |
| Editeur : |
[S.l.] : [s.n.] |
| Année de publication : |
1985 |
| Importance : |
74 f. |
| Présentation : |
ill. |
| Format : |
27 cm. |
| Note générale : |
Mémoire de Projet de Fin d’Études : Électronique : Alger, École Nationale Polytechnique : 1985
Bibliogr.: [1] f |
| Langues : |
Français (fre) |
| Mots-clés : |
Circuits intégrés
Test -- Mémoires
Test Microprocesseurs |
| Index. décimale : |
PN01785 |
| Résumé : |
Dans ce travail on expose les spécificités du problème de test des circuits intégrés (LSI et VLSI) entrants dans la constitution des micro-ordinateurs.
On donne par la suite quelques méthodes utilisées pour le test de ce type de circuit. |
Méthodes de test d'une famille de micro-ordinateur [texte imprimé] / Boutria, Mohamed, Auteur ; Soufi, Messaoud, Auteur ; Kaminska, B., Directeur de thèse . - [S.l.] : [s.n.], 1985 . - 74 f. : ill. ; 27 cm. Mémoire de Projet de Fin d’Études : Électronique : Alger, École Nationale Polytechnique : 1985
Bibliogr.: [1] f Langues : Français ( fre)
| Mots-clés : |
Circuits intégrés
Test -- Mémoires
Test Microprocesseurs |
| Index. décimale : |
PN01785 |
| Résumé : |
Dans ce travail on expose les spécificités du problème de test des circuits intégrés (LSI et VLSI) entrants dans la constitution des micro-ordinateurs.
On donne par la suite quelques méthodes utilisées pour le test de ce type de circuit. |
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