Essai CEM au niveau équipement / Thierry Segond in Techniques de l'ingénieur E, Vol. E2 (Trimestriel)  

Essai CEM au niveau équipement [texte imprimé] / Thierry Segond, Auteur . - 2007 . - 7 p.
Bibliogre.
Langues : Français (fre)
in Techniques de l'ingénieur E > Vol. E2 (Trimestriel) . - 7 p.

Mots-clés :	Circuit intégré CMOS IEC ICEM ICIM
Résumé :	Nous donnons dans ce dossier quelques indications sur l’évolution des performances et de l’intégration des circuits intégrés en fonction des nœuds technologiques, en dérivant des paramètres clés pour la compatibilité électromagnétique des composants. Nous présentons ensuite un état de l’art des méthodes de mesures normalisées applicables aux composants, puis illustrons les idées débattues au sein des comités normatifs sur la modélisation de l’émission et de l’immunité.
REFERENCE :	E 1 320
Date :	Mai 2012
En ligne :	http://www.techniques-ingenieur.fr/base-documentaire/electronique-photonique-th1 [...]