Test des circuits intégrés numériques / Régis Leveugle in Techniques de l'ingénieur E, Vol. E4 (Trimestriel)  

Test des circuits intégrés numériques : Notions de base. Génération de vecteurs [texte imprimé] / Régis Leveugle, Auteur . - 2007 . - 14 p.
Langues : Français (fre)
in Techniques de l'ingénieur E > Vol. E4 (Trimestriel) . - 14 p.

Mots-clés :	Circuits intégrés  DFT  Design for Testability  CMOS
Résumé :	Le test des circuits intégrés n’est pas un domaine nouveau, mais il est en perpétuelle mutation. Lors des premiers pas dans la production de circuits intégrés, l’ingénieur de conception et l’ingénieur chargé du test étaient généralement bien dissociés. Le premier décidait des éléments à implanter dans le circuit et du dessin de ces éléments sur le substrat physique ; le second décidait ensuite comment déterminer efficacement, en fin de production, si le circuit n’était pas entaché d’un défaut de fabrication et pouvait être livré au client. Le premier devait donc garantir une fonctionnalité exempte d’erreur de conception ; le second devait assurer la détection de tout défaut physique. Avec la croissance rapide de la complexité des circuits, cette séparation nette des responsabilités est devenue caduque. L’évolution vers la haute intégration (VLSI : Very Large Scale Integration) a eu pour conséquence l’impossibilité de tester efficacement le circuit en production si le test n’a pas été prévu pendant la conception ; la qualité et le coût du test sont devenus directement liés aux choix de conception et aux informations fournies par le concepteur pour la préparation du test.
REFERENCE :	E 2 460
Date :	Aoüt 2002
En ligne :	http://www.techniques-ingenieur.fr/base-documentaire/electronique-automatique-th [...]