Emission ionique secondaire SIMS / Darque-Cretti, Évelyne (1998)

in Techniques de l'ingénieur : techniques d'analyse Ti630. Analyses de surface et de matériaux / Gwenola Burgot (2012)  

Emission ionique secondaire SIMS : principes et appareillages : réf. internet P 2618 [texte imprimé] / Darque-Cretti, Évelyne, Auteur ; Henri-Noel Migeon, Auteur ; Marc Aucouturier, Auteur . - 1998 . - p. 297-312.
Bibliogr. p. 312
Langues : Français (fre)

Mots-clés :	Analyse ionique par émission secondaire (SIMS) Microanalyse
Note de contenu :	Sommaire: 1. Principe de l'émission ionique secondaire 2. Principes de mesure et appareillages. Paramètres expérimentaux