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Ressources Électroniques
Test des circuits intégrés numériques (2002)
Test des circuits intégrés numériques : conception orientée testabilité : réf. internet E 2461 [texte imprimé] / Régis Leveugle, Auteur . - Paris : Techniques de l'ingénieur, 2002 . - p. 411 - 427.
in Techniques de l'ingénieur : électronique Ti350. Architecture et tests des circuits numériques (2012)
Bibliogr. p. 427
Langues : Français (fre)
Mots-clés : Circuits intégrés numériques Note de contenu : Sommaire :
1. Techniques de conception pour augmenter la testabilité d’un circuit
2. Norme IEEE 1149.1 « boundary scan »
3. Vers le test des SOC
4. Techniques de conception pour augmenter la testabilité en ligne
5. Outils CAO
6. Exemples d’utilisation des techniques de DFT
7. Conclusion
