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Ressources Électroniques
Microscopie à force atomique (AFM) (2005)
Microscopie à force atomique (AFM) : réf. internet R1394 [texte imprimé] / Jean-Claude Rivoal, Auteur ; Christian Frétigny, Auteur . - 2005 . - p.163-182.
in Techniques de l'ingénieur : mesures mécanique et dimensionnelles Ti673. Mesures tridimensionnelles et états de surface (2012)
Bibliogr. p.181
Langues : Français (fre)
Mots-clés : Mesure électrique
MicroscopieNote de contenu : Sommaire:
1. Instrumentation et modes de fonctionnement
2. Applications
3. Conclusion
