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Ressources Électroniques
Microscopie à force atomique (AFM) (2005)
Microscopie à force atomique (AFM) : réf. internet R 1394 [texte imprimé] / Jean-Claude Rivoal, Auteur ; Christian Frétigny, Auteur . - 2005 . - p. 135-154.
in Techniques de l'ingénieur : tribologie Ti574. Surfaces (2012)
Bibliogr. p. 153-154
Langues : Français (fre)
Mots-clés : Microscopes
Microscopie à forme atomique
NanotechnologieNote de contenu : Sommaire:
1. Instrumentation et modes de fonctionnement
2. Applications
3. Conclusion
